闩鎖的英文解釋翻譯、闩鎖的的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【計】 latched

分詞翻譯：

闩鎖的英語翻譯：

【機】 latch

專業解析

闩鎖的（Latch-up）是電子工程領域的關鍵術語，指半導體器件中因寄生結構觸發異常低阻抗通路，導緻電流激增并可能引發器件損壞的現象。該現象常見于CMOS集成電路中，由PNPN寄生晶閘管結構在電壓或電流瞬變條件下意外導通引起。

從機制分析，闩鎖效應包含兩個寄生雙極型晶體管（NPN和PNP）形成的正反饋回路。當觸發條件（如輸入電壓超過額定值）滿足時，回路導通産生持續大電流，造成電源與地線間的短路。

工程實踐中，預防措施包括：

1. 使用絕緣體上矽（SOI）工藝阻斷寄生通路
2. 布局優化（如增加保護環）
3. 電源引腳添加瞬态電壓抑制器

   行業标準IEC 60747将闩鎖效應列為集成電路可靠性測試的必檢項目。

該術語的權威解釋可參考《IEEE固态電路期刊》（DOI:10.1109/JSSC.1984.1052224）及美國國家标準技術研究院（NIST）發布的《半導體器件故障分析手冊》。

網絡擴展解釋

根據不同的應用領域，“闩鎖”一詞有以下兩種核心含義：

電子工程領域的闩鎖效應（Latch-up）
指CMOS集成電路中的一種寄生電路現象，由NPN和PNP型寄生晶體管意外導通形成正反饋回路。具體特征包括：

• 觸發機制：當電源（VDD）與地（GND）間出現低阻抗通路時，寄生雙極晶體管導通，導緻不可控的大電流（可能超過100mA）
• 結構基礎：PNP晶體管的發射極是PMOS的P+源極，基極為N型阱，集電極是P型襯底；NPN晶體管則與此互補
• 危害性：可能引發芯片功能失效、過熱甚至永久性物理損壞，是芯片設計中需要重點防範的可靠性問題

數據庫系統領域的闩鎖（Latch）
在SQL Server等數據庫系統中，闩鎖是内存訪問同步機制，具有以下特性：

• 功能層級：作為輕量級同步對象，保護内存結構（如緩沖池）的物理一緻性，防止多線程操作導緻數據損壞
• 運作特點
  ▫ 允許并發讀操作，但寫操作需要獨占
  ▫ 自動管理不可用戶控制（對比可手動控制的鎖機制）
  ▫ 細分為Buffer Latch（保護數據頁訪問）和Buffer IO Latch（協調磁盤I/O操作）
• 與鎖的區别：鎖負責事務邏輯隔離（如行級鎖），而闩鎖保障内存操作的原子性，兩者協同實現ACID特性

兩類闩鎖的本質區别在于：電子工程領域是物理層面的電路異常現象，數據庫領域則是軟件層面的并發控制機制。理解時需結合具體上下文語境。

分類

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