
【计】 latched
【机】 latch
闩锁的(Latch-up)是电子工程领域的关键术语,指半导体器件中因寄生结构触发异常低阻抗通路,导致电流激增并可能引发器件损坏的现象。该现象常见于CMOS集成电路中,由PNPN寄生晶闸管结构在电压或电流瞬变条件下意外导通引起。
从机制分析,闩锁效应包含两个寄生双极型晶体管(NPN和PNP)形成的正反馈回路。当触发条件(如输入电压超过额定值)满足时,回路导通产生持续大电流,造成电源与地线间的短路。
工程实践中,预防措施包括:
行业标准IEC 60747将闩锁效应列为集成电路可靠性测试的必检项目。
该术语的权威解释可参考《IEEE固态电路期刊》(DOI:10.1109/JSSC.1984.1052224)及美国国家标准技术研究院(NIST)发布的《半导体器件故障分析手册》。
根据不同的应用领域,“闩锁”一词有以下两种核心含义:
电子工程领域的闩锁效应(Latch-up)
指CMOS集成电路中的一种寄生电路现象,由NPN和PNP型寄生晶体管意外导通形成正反馈回路。具体特征包括:
数据库系统领域的闩锁(Latch)
在SQL Server等数据库系统中,闩锁是内存访问同步机制,具有以下特性:
两类闩锁的本质区别在于:电子工程领域是物理层面的电路异常现象,数据库领域则是软件层面的并发控制机制。理解时需结合具体上下文语境。
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