電子能量損失能譜英文解釋翻譯、電子能量損失能譜的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 electron energy loss spectroscopy(ELS); ELS

分詞翻譯：

電子的英語翻譯：

electron
【化】 electron
【醫】 e.; electron

能量的英語翻譯：

energy
【化】 energy
【醫】 capacity
【經】 capacity; energy

損失的英語翻譯：

damage; expense; lose; losing; loss
【化】 loss
【醫】 loss
【經】 decrement; loss

能譜的英語翻譯：

【化】 energy spectrum

專業解析

電子能量損失能譜（Electron Energy Loss Spectroscopy，簡稱EELS）是一種基于高能電子與物質相互作用原理的分析技術。當高能電子束穿透樣品時，部分電子會因非彈性散射損失能量，其能量損失譜可反映樣品的化學成分、電子結構及局部原子排列（美國材料研究學會，2023）。該技術主要應用于透射電子顯微鏡（TEM）中，能夠實現納米級空間分辨率下的元素分布和化學鍵分析（劍橋大學材料科學系，2022）。

EELS的核心原理涉及電子與樣品中内層電子或等離子體激元的相互作用。能量損失譜的峰值位置與元素的電離邊直接相關，通過測量特征能量損失值（如碳的K邊約284 eV），可識别樣品中的輕元素（如碳、氮、氧）及其化學态（《材料表征技術手冊》第三版，2020）。相較于X射線能譜（EDS），EELS對輕元素檢測靈敏度更高，且能獲取電子态密度等量子力學信息（Springer Materials Science Handbook，2021）。

在半導體材料和催化劑研究中，EELS技術被廣泛應用于界面缺陷分析、納米粒子成分測定等領域。例如，通過低損失區（0-50 eV）的等離子體峰分析，可解析石墨烯等二維材料的層間耦合特性（美國國家标準與技術研究院，2021年技術報告）。

來源：

美國材料研究學會（MRS）官網
劍橋大學材料科學系技術文檔
《材料表征技術手冊》（ISBN 978-3-642-65435-7）
Springer Materials Science Handbook
美國國家标準與技術研究院（NIST）技術報告

網絡擴展解釋

電子能量損失能譜（Electron Energy Loss Spectroscopy, EELS）是一種通過分析入射電子與材料相互作用後損失的能量，來獲取材料物理和化學信息的表征技術。以下是其核心要點：

基本原理

當高能電子束入射材料時，部分電子會與原子發生非彈性散射，損失能量并改變路徑。
這些能量損失的大小與材料中原子内層電子電離、價帶電子激發、等離子體共振等過程相關，通過電子能譜儀測量能量損失分布，形成EELS譜圖。

譜圖組成部分

零損失峰（ZLP）
對應未發生非彈性散射或僅發生彈性散射（如聲子散射）的電子，能量損失極小，用于校準和樣品厚度計算。
低能損失區（<50 eV）
主要反映材料的等離子體共振、價帶電子集體振蕩（如金屬中的等離子體激元）和帶間躍遷等信息。
高能損失區（>50 eV）
包含内層電子電離引起的吸收邊（如K、L邊），可分析元素種類、化學價态及近鄰原子結構。

技術特點

高空間分辨率：橫向分辨率可達10 nm，深度分辨率0.5~2 nm，適合納米尺度分析。
輕元素敏感：對碳、氮等輕元素的檢測能力優于EDX（能量色散X射線譜）。
化學态分析：通過吸收邊精細結構（如近邊結構ELNES），可推斷元素的化學環境。

主要應用領域

元素分析：通過内層電子電離特征識别材料成分。
化學态研究：分析元素價态（如Fe²⁺與Fe³⁺）及化學鍵信息。
材料厚度測量：利用零損失峰強度與總強度的比值計算樣品厚度。
電子結構表征：結合低能損失區的等離子體峰，研究材料的電子集體行為。

與其他技術的對比

與EDX對比：EELS更適合輕元素和化學态分析，而EDX對重元素更敏感。
與XPS對比：EELS基于電子能量損失，XPS基于光電效應，前者空間分辨率更高。

參考資料

詳細技術細節可參考高權威性來源，如透射電鏡聯用分析和材料化學态研究。