
【化】 electron energy loss spectroscopy(ELS); ELS
electron
【化】 electron
【医】 e.; electron
energy
【化】 energy
【医】 capacity
【经】 capacity; energy
damage; expense; lose; losing; loss
【化】 loss
【医】 loss
【经】 decrement; loss
【化】 energy spectrum
电子能量损失能谱(Electron Energy Loss Spectroscopy,简称EELS)是一种基于高能电子与物质相互作用原理的分析技术。当高能电子束穿透样品时,部分电子会因非弹性散射损失能量,其能量损失谱可反映样品的化学成分、电子结构及局部原子排列(美国材料研究学会,2023)。该技术主要应用于透射电子显微镜(TEM)中,能够实现纳米级空间分辨率下的元素分布和化学键分析(剑桥大学材料科学系,2022)。
EELS的核心原理涉及电子与样品中内层电子或等离子体激元的相互作用。能量损失谱的峰值位置与元素的电离边直接相关,通过测量特征能量损失值(如碳的K边约284 eV),可识别样品中的轻元素(如碳、氮、氧)及其化学态(《材料表征技术手册》第三版,2020)。相较于X射线能谱(EDS),EELS对轻元素检测灵敏度更高,且能获取电子态密度等量子力学信息(Springer Materials Science Handbook,2021)。
在半导体材料和催化剂研究中,EELS技术被广泛应用于界面缺陷分析、纳米粒子成分测定等领域。例如,通过低损失区(0-50 eV)的等离子体峰分析,可解析石墨烯等二维材料的层间耦合特性(美国国家标准与技术研究院,2021年技术报告)。
来源:
电子能量损失能谱(Electron Energy Loss Spectroscopy, EELS)是一种通过分析入射电子与材料相互作用后损失的能量,来获取材料物理和化学信息的表征技术。以下是其核心要点:
零损失峰(ZLP)
对应未发生非弹性散射或仅发生弹性散射(如声子散射)的电子,能量损失极小,用于校准和样品厚度计算。
低能损失区(<50 eV)
主要反映材料的等离子体共振、价带电子集体振荡(如金属中的等离子体激元)和带间跃迁等信息。
高能损失区(>50 eV)
包含内层电子电离引起的吸收边(如K、L边),可分析元素种类、化学价态及近邻原子结构。
详细技术细节可参考高权威性来源,如透射电镜联用分析和材料化学态研究。
办公室工作制度肠系膜结肠系膜的粗音带式自动秤滴下霏霏公平灌木丛蜱管闩诡密的过硼酸行动迅速的豪富妄想合营者糊样产吉距骨小腿关节卡尔伐胶片冷落罗布氏热美国保管人股份莫尔加尼氏窦农副产品欧薄荷油欧鼠尾草破相生殖膀胱裂神经胶质增生书皮