
【醫】 curtometer; cyrtometer; kyrtometer
bend; bent; crooked; melody; music; song; wrong
【化】 distiller's yeast; distillery yeast
【醫】 bend; curvatura; curvature; cyrto-; flexura; flexurae; flexure; leaven
face; surface; cover; directly; range; scale; side
【醫】 face; facies; facio-; prosopo-; surface
guage; measure; meterage; scale; survey
【化】 measurement
【醫】 measurement; mensuration; survey
【經】 calibration; take the gauge of
idea; plan; calculate; count; meter; stratagem
【醫】 meter
曲面測量計(Surface Profiler)是一種用于精确測量物體表面形貌、粗糙度及微觀幾何特征的精密儀器。在漢英詞典中,該術語可拆解為:
表面形貌分析
通過接觸式探針或非接觸式(如光學、激光)傳感器,采集物體表面的三維坐标數據,生成高度圖(Height Map),量化曲率、波紋度等參數。例如,白光幹涉儀利用相幹光相位差重建亞微米級表面形貌 。
粗糙度測量
依據ISO 4287标準,計算表面輪廓的算術平均偏差(Ra)、最大高度(Rz)等關鍵指标,評估加工工藝質量 。
美國國家标準與技術研究院(NIST)将曲面測量計定義為“通過空間坐标映射實現表面拓撲結構量化的計量設備”(NIST SP 960-12)。國際标準ISO 25178進一步規範了非接觸式三維表面紋理的測量方法 。
主要技術類型
- 接觸式:金剛石探針掃描(精度達納米級,適用硬質材料)
- 激光共聚焦:無損傷掃描生物樣本、透明材料
- 白光幹涉:高分辨率測量微結構台階高度
常見制造商包括德國蔡司(Zeiss)、日本三豐(Mitutoyo)及美國KLA-Tencor,其設備均通過ISO/IEC 17025校準認證。具體技術參數可查閱中國計量科學研究院發布的《幾何量精密測量技術規範》(JJF 1953-2021)。
“曲面測量計”是一種用于測量物體表面曲率、弧度或其他幾何參數的儀器,常見于工業制造、模具檢測等領域。以下是其核心解釋:
基本定義與功能
該儀器主要用于精确測量凹凸曲面的曲率半徑、曲率等參數。其結構通常包含機械測杆(如左/右測杆、中測杆)、傳感器系統及數據處理模塊,通過物理接觸或非接觸方式獲取數據(,)。
測量原理與技術特點
應用場景
適用于大型覆蓋件(如汽車外殼)、模具曲面檢測等場景,能固定于專用場所進行高精度測量()。
英文翻譯與術語
英文對應詞彙包括curtometer、cyrtometer 或kyrtometer,但需注意不同語境下術語可能側重醫學或工程領域()。
注:實際設備可能存在多種變體,具體功能需參考廠商技術文檔。如需進一步了解結構細節或數據算法,可查閱完整内容。
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