缺級英文解釋翻譯、缺級的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 missing order

分詞翻譯：

缺的英語翻譯：

be short of; imperfect; lack; minus
【醫】 a-

級的英語翻譯：

class; grade; level; o-level; rank; stage; step
【醫】 grade

專業解析

在漢英詞典中，“缺級”（quē jí）是一個具有特定專業含義的物理學術語，尤其在光學領域中使用頻繁。其核心釋義及用法如下：

一、核心釋義

缺級（quē jí）

詞性：名詞（noun）
英譯：missing order
定義：指在衍射光栅或幹涉圖樣中，預期出現的某級明條紋或暗條紋因特定條件未被觀測到的現象。這是由于多縫幹涉的主極大位置與單縫衍射的極小位置重合，導緻該級光譜消失。

二、專業語境解析

在物理光學中，缺級現象需滿足以下條件：

幹涉與衍射的耦合：多縫幹涉的主極大（$k$級）位置需與單縫衍射的極小位置重合。
數學條件：當光栅常數$d$與單縫寬度$a$滿足關系式：
$$ d cdot sin theta = klambda, quad a cdot sin theta = mlambda $$ 其中$k$為整數（幹涉級次），$m$為非零整數（衍射極小級次）。若$k = frac{d}{a} cdot m$成立，則第$k$級譜線缺失。

三、典型用法與例句

例句（中文）：

當光栅常數與縫寬之比為整數時，衍射圖樣中會出現缺級現象。
例句（英譯）：

When the ratio of grating constant to slit width is an integer,missing orders appear in the diffraction pattern.

四、權威來源參考

《物理學名詞》（全國科學技術名詞審定委員會）
定義“缺級”為“衍射光栅中因幹涉與衍射共同作用導緻某些級次譜線消失的現象”。（典源：物理學名詞審定委員會官網）

《光學教程》（姚啟鈞著）
第4章詳細分析缺級條件，指出“$d/a$為整數時，$k = pm frac{d}{a}, pm 2frac{d}{a}, cdots$級次缺失”。（典源：高等教育出版社，ISBN 978-7-04-024315-7）

《Principles of Optics》（Born & Wolf）
第8章“Diffraction Gratings”中描述缺級為“cancellation of interference maxima by diffraction minima”。（典源：Cambridge University Press）

五、同義詞與關聯術語

近義詞：消失級次（vanishing order）
關聯概念：
- 衍射光栅（diffraction grating）：産生缺級的核心光學元件。
- 主極大（principal maximum）：缺級影響的對象。
- 光栅方程（grating equation）：$d sin theta = klambda$，用于計算缺級條件。

六、常見誤用提示

錯誤表述：
“缺級是光栅制造缺陷導緻的現象。”（×）

糾正：
缺級是波動光學的固有特性，與器件瑕疵無關（√），需通過理論公式嚴格驗證。

參見：衍射光栅、夫琅禾費衍射

網絡擴展解釋

“缺級”是光栅衍射中的一種現象，指理論上應出現的明條紋（譜線）因單縫衍射的調制作用而消失的現象。以下是詳細解釋：

1.定義與現象

缺級指某些衍射角θ同時滿足光栅幹涉的明紋條件（應出現亮條紋）和單縫衍射的暗紋條件（導緻亮度為零），最終這些級次的明紋無法顯現，形成暗紋。例如，若第3級明紋因缺級消失，則稱“第3級缺級”。

2.形成原因

光栅幹涉：多縫幹涉的疊加使大部分位置出現明紋，條件為光栅方程： $$d sinθ = kλ$$ 其中d為光栅常數，k為整數（衍射級次）。
單縫衍射調制：每個狹縫的衍射會調制光強，當滿足單縫衍射暗紋條件時： $$a sinθ = mλ$$ 其中a為單縫寬度，m為整數，此時各縫的光強為零，導緻總光強為零。

當兩個條件同時滿足時，本應出現的k級明紋被“抵消”，形成缺級。

3.缺級條件

聯立光栅方程和單縫衍射暗紋條件，可得缺級發生的級次： $$k = frac{d}{a} cdot m$$ 其中m為整數。因此，當光栅常數d與縫寬a的比值（d/a）為整數時，對應的k級明紋會缺級。例如，若d/a=2，則k=2,4,6…等級次會缺失。

4.實例說明

假設d=3a，則缺級出現在k=3,6,9…等級次。此時即使這些k值滿足光栅方程，也會因單縫衍射的暗紋條件導緻亮度為零。

5.意義

缺級現象體現了光栅衍射中多光束幹涉與單縫衍射的耦合作用，是波動光學的重要概念，常用于光譜分析和精密測量領域。