缺级英文解释翻译、缺级的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【化】 missing order

分词翻译：

缺的英语翻译：

be short of; imperfect; lack; minus
【医】 a-

级的英语翻译：

class; grade; level; o-level; rank; stage; step
【医】 grade

专业解析

在汉英词典中，“缺级”（quē jí）是一个具有特定专业含义的物理学术语，尤其在光学领域中使用频繁。其核心释义及用法如下：

一、核心释义

缺级（quē jí）

词性：名词（noun）
英译：missing order
定义：指在衍射光栅或干涉图样中，预期出现的某级明条纹或暗条纹因特定条件未被观测到的现象。这是由于多缝干涉的主极大位置与单缝衍射的极小位置重合，导致该级光谱消失。

二、专业语境解析

在物理光学中，缺级现象需满足以下条件：

干涉与衍射的耦合：多缝干涉的主极大（$k$级）位置需与单缝衍射的极小位置重合。
数学条件：当光栅常数$d$与单缝宽度$a$满足关系式：
$$ d cdot sin theta = klambda, quad a cdot sin theta = mlambda $$ 其中$k$为整数（干涉级次），$m$为非零整数（衍射极小级次）。若$k = frac{d}{a} cdot m$成立，则第$k$级谱线缺失。

三、典型用法与例句

例句（中文）：

当光栅常数与缝宽之比为整数时，衍射图样中会出现缺级现象。
例句（英译）：

When the ratio of grating constant to slit width is an integer,missing orders appear in the diffraction pattern.

四、权威来源参考

《物理学名词》（全国科学技术名词审定委员会）
定义“缺级”为“衍射光栅中因干涉与衍射共同作用导致某些级次谱线消失的现象”。（典源：物理学名词审定委员会官网）

《光学教程》（姚启钧著）
第4章详细分析缺级条件，指出“$d/a$为整数时，$k = pm frac{d}{a}, pm 2frac{d}{a}, cdots$级次缺失”。（典源：高等教育出版社，ISBN 978-7-04-024315-7）

《Principles of Optics》（Born & Wolf）
第8章“Diffraction Gratings”中描述缺级为“cancellation of interference maxima by diffraction minima”。（典源：Cambridge University Press）

五、同义词与关联术语

近义词：消失级次（vanishing order）
关联概念：
- 衍射光栅（diffraction grating）：产生缺级的核心光学元件。
- 主极大（principal maximum）：缺级影响的对象。
- 光栅方程（grating equation）：$d sin theta = klambda$，用于计算缺级条件。

六、常见误用提示

错误表述：
“缺级是光栅制造缺陷导致的现象。”（×）

纠正：
缺级是波动光学的固有特性，与器件瑕疵无关（√），需通过理论公式严格验证。

参见：衍射光栅、夫琅禾费衍射

网络扩展解释

“缺级”是光栅衍射中的一种现象，指理论上应出现的明条纹（谱线）因单缝衍射的调制作用而消失的现象。以下是详细解释：

1.定义与现象

缺级指某些衍射角θ同时满足光栅干涉的明纹条件（应出现亮条纹）和单缝衍射的暗纹条件（导致亮度为零），最终这些级次的明纹无法显现，形成暗纹。例如，若第3级明纹因缺级消失，则称“第3级缺级”。

2.形成原因

光栅干涉：多缝干涉的叠加使大部分位置出现明纹，条件为光栅方程： $$d sinθ = kλ$$ 其中d为光栅常数，k为整数（衍射级次）。
单缝衍射调制：每个狭缝的衍射会调制光强，当满足单缝衍射暗纹条件时： $$a sinθ = mλ$$ 其中a为单缝宽度，m为整数，此时各缝的光强为零，导致总光强为零。

当两个条件同时满足时，本应出现的k级明纹被“抵消”，形成缺级。

3.缺级条件

联立光栅方程和单缝衍射暗纹条件，可得缺级发生的级次： $$k = frac{d}{a} cdot m$$ 其中m为整数。因此，当光栅常数d与缝宽a的比值（d/a）为整数时，对应的k级明纹会缺级。例如，若d/a=2，则k=2,4,6…等级次会缺失。

4.实例说明

假设d=3a，则缺级出现在k=3,6,9…等级次。此时即使这些k值满足光栅方程，也会因单缝衍射的暗纹条件导致亮度为零。

5.意义

缺级现象体现了光栅衍射中多光束干涉与单缝衍射的耦合作用，是波动光学的重要概念，常用于光谱分析和精密测量领域。