高溫測量法英文解釋翻譯、高溫測量法的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【醫】 pyrometry

分詞翻譯：

高溫的英語翻譯：

high temperature
【醫】 hyperthermia; hyperthermy

測量的英語翻譯：

guage; measure; meterage; scale; survey
【化】 measurement
【醫】 measurement; mensuration; survey
【經】 calibration; take the gauge of

法的英語翻譯：

dharma; divisor; follow; law; standard
【醫】 method
【經】 law

專業解析

高溫測量法（英文：Pyrometry）是一種專門測量高溫（通常指500°C以上）的技術或方法的總稱。它區别于常規溫度測量，主要針對那些超出普通溫度計（如水銀溫度計、熱電偶常規量程）適用範圍的高溫場景。其核心原理是通過測量高溫物體輻射出的能量（主要是可見光和紅外光）或其他物理性質的變化來推算其溫度。

以下是其關鍵方面的詳細解釋：

核心原理與特點：
- 非接觸式為主：大多數高溫測量法（如輻射測溫法）屬于非接觸式測量。探測器（如紅外傳感器、光學高溫計）不直接接觸被測物體，通過接收物體發出的熱輻射能量來确定其溫度。這對于測量運動物體、腐蝕性環境或極高溫度（如熔融金屬離子體）至關重要。
- 基于熱輻射定律：最主要的理論基礎是普朗克黑體輻射定律、斯蒂芬-玻爾茲曼定律和維恩位移定律。這些定律描述了物體的溫度與其輻射出的電磁波能量、波長分布及峰值波長之間的關系。通過測量特定波長或波段内的輻射強度，即可計算出物體的溫度。
- 量程寬：高溫測量法的量程可以從幾百度覆蓋到數千度甚至更高，具體取決于所采用的技術（如紅外測溫儀、比色高溫計、光高溫計等）。
主要測量方法（技術）：
- 輻射測溫法：這是高溫測量法中最常用的一類。根據測量波段和原理不同，又可分為：
  - 亮度測溫法：測量物體在某一特定波長（或窄波段）下的輻射亮度，與标準光源（如鎢絲燈）的亮度進行比較來确定溫度。典型代表是光學高溫計（消失絲式光學高溫計）。
  - 全輻射測溫法：測量物體在整個波長範圍内（通常指紅外波段）的總輻射能量（輻射出射度），根據斯蒂芬-玻爾茲曼定律推算溫度。常用儀器是輻射高溫計（或全輻射高溫計）。
  - 比色測溫法：同時測量物體在兩個或多個特定波長（或波段）下的輻射亮度比值。這個比值與溫度有确定關系，且受物體發射率變化的影響相對較小，測量精度較高。常用儀器是比色高溫計。
- 其他方法：雖然輻射法是主流，但在特定場合也可能使用接觸式方法（如特殊材料制成的熱電偶、鉑電阻溫度計）或基于聲學、激光散射等原理的方法，但這些通常也歸類于高溫測量技術範疇。
典型應用領域：
- 冶金工業（煉鋼、軋鋼、鑄造）
- 玻璃制造與陶瓷燒成
- 航空航天（發動機測試）
- 能源電力（鍋爐、燃氣輪機）
- 材料科學研究（高溫材料性能測試）
- 半導體制造（晶體生長、擴散工藝）

參考文獻：

術語“Pyrometry”的定義及其基本原理，參考自國際電工委員會（IEC）發布的國際電工詞彙（IEV）相關條目，該标準是電子電氣工程領域的權威術語标準。可在IEC官網或标準數據庫查詢具體内容。
高溫測量技術的分類與應用概述，綜合參考了計量學領域的經典教材《Handbook of Temperature Measurement》以及美國國家标準與技術研究院（NIST）發布的溫度測量指南中的相關内容。NIST作為美國最高計量機構，其發布的技術文檔具有高度權威性。

網絡擴展解釋

高溫測量法是指用于測定高溫（通常指500℃以上）的技術手段，其核心原理基于熱力學、輻射學及材料特性。以下是主要方法及原理的詳細分類解釋：

一、接觸式測溫法

熱電偶法
利用兩種不同金屬導體組成的閉合回路，當兩端溫度不同時産生塞貝克效應（溫差電動勢）。例如，鉑铑合金熱電偶可測2000℃以上高溫，常用于工業爐監測。
電阻測溫法
基于金屬或半導體材料的電阻隨溫度變化的特性。鉑電阻溫度計（PT100）在0~850℃範圍内精度可達±0.1℃，適用于實驗室和精密工業場景。

二、非接觸式輻射測溫法

亮度法（光學高溫計）
通過比較被測物體與标準光源的單色輻射亮度，利用維恩公式計算溫度。適用于800~3200℃的金屬熔煉監測。
比色法（雙色高溫計）
測量物體在兩個特定波長（如λ₁=0.9μm、λ₂=1.0μm）下的輻射強度比，公式為： $$ frac{L(λ₁)}{L(λ₂)} = left(frac{λ₂}{λ₁}right) e^{frac{hc}{k}left(frac{1}{λ₂T}-frac{1}{λ₁T}right)} $$ 可減少發射率誤差，適合測量2000℃以上的非黑體表面。
全輻射法
依據斯特藩-玻爾茲曼定律，總輻射能 $M=εσT$（ε為發射率，σ=5.67×10⁻⁸ W/m²K⁴）。需配合黑體空腔修正實際物體的ε值，用于3000℃以上的極端環境。

三、特殊場景測量

工作場所WBGT指數
綜合幹球溫度（Tg）、濕球溫度（Tnw）、黑球溫度（Tg）計算：
- 室内：WBGT = 0.7Tnw + 0.3Tg
- 室外：WBGT = 0.7Tnw + 0.2Tg + 0.1Ta
  用于評估高溫作業的人體熱負荷。
超高溫光譜法
對10000℃以上等離子體，通過分析發射光譜的譜線強度比，結合基爾霍夫輻射定律和普朗克公式反演溫度。

四、關鍵影響因素

發射率修正：非黑體表面需通過附加反射鏡構造等效黑體空腔，或通過材料數據庫校正ε值。
環境幹擾：粉塵、煙霧會衰減輻射信號，需采用吹掃裝置或選擇特定波長濾波。

更多技術細節可參考《高溫測量原理》（道客巴巴）及工業測溫标準文件。