電荷耦合影像感測器英文解釋翻譯、電荷耦合影像感測器的近義詞、反義詞、例句
英語翻譯:
【電】 charge-coupled image sensor
分詞翻譯:
電荷耦合的英語翻譯:
【電】 charge coupling
影像的英語翻譯:
blip; image; shadow; video
【醫】 icon; image; screenage
感的英語翻譯:
affect; be obliged; feel; move; sense; touch
測的英語翻譯:
infer; measure; survey
器的英語翻譯:
implement; organ; utensil; ware
【醫】 apparatus; appliance; crgan; device; organa; organon; organum; vessel
專業解析
電荷耦合影像感測器(Charge-Coupled Device Image Sensor,簡稱 CCD),是一種利用電荷耦合器件(CCD)技術将光學影像轉換為電子信號的光電轉換器件。其核心工作原理基于半導體材料的光電效應和電荷轉移機制。
一、核心工作原理
- 光電轉換:當光線照射到CCD表面的感光單元(像素)時,光子激發半導體材料(通常為矽)産生電子-空穴對,形成與光強成正比的電荷包。
- 電荷存儲:每個像素單元包含一個微小電容(勢阱),在外部電壓控制下暫時存儲生成的電荷。
- 電荷轉移:通過周期性改變相鄰電極的電壓,電荷包沿預設路徑(水平/垂直移位寄存器)逐級傳遞至輸出端,形成時序電信號。
- 信號輸出:電荷包最終到達輸出放大器,轉換為電壓信號并數字化,生成數字圖像。
二、關鍵特性與優勢
- 高靈敏度與低噪聲:CCD結構減少信號讀取過程中的幹擾,適用于弱光環境(如天文觀測)。
- 全局快門:所有像素同時曝光,避免運動物體成像畸變。
- 寬動态範圍:可捕捉高對比度場景的細節。
三、典型應用場景
- 科學成像:顯微鏡、望遠鏡等精密儀器依賴CCD的高信噪比特性。
- 工業檢測:生産線上的高速、高精度視覺檢測系統。
- 醫療影像:X光機、内窺鏡等設備的圖像采集模塊。
四、與CMOS傳感器的對比
特性 |
CCD |
CMOS |
噪聲控制 |
低讀出噪聲 |
較高噪聲(工藝依賴) |
功耗 |
較高(需外部驅動電壓) |
較低(集成電路優化) |
集成度 |
低(外圍電路分立) |
高(單片集成ADC等) |
成本 |
較高(制造工藝複雜) |
較低(标準半導體工藝) |
資料來源:
- 光學工程經典教材《光電成像系統設計》(R. D. Fiete, 2012)對CCD物理機制的解析
- IEEE期刊論文 Charge-Coupled Device Technology for Scientific Imaging (J. R. Janesick, 2001) 詳述CCD在科研領域的優勢
- 索尼半導體技術白皮書《CCD與CMOS圖像傳感器比較》(2019版)的性能對比數據
網絡擴展解釋
電荷耦合影像感測器(Charge-Coupled Device,CCD)是一種将光信號轉換為電信號的半導體成像器件,以下是其核心要點:
1.定義與發明背景
CCD由貝爾實驗室的W.S.博伊爾和G.E.史密斯于1969年發明。它通過規則排列的金屬-氧化物-半導體(MOS)電容陣列捕獲光子并生成電荷,最終輸出數字信號,廣泛應用于數碼相機、天文攝影及機器視覺等領域。
2.結構與組成
- 光敏單元:由二維矩陣排列的MOS電容構成,每個像素對應一個光敏單元,負責将光子轉換為電子并儲存電荷。
- 移位寄存器:通過時鐘脈沖控制電荷包在像素間的有序轉移,類似“勢阱”機制。
- 輸出電路:将轉移的電荷轉換為電壓信號,并進行放大和數字化處理。
3.工作原理
- 光電轉換:光子照射到CCD表面時激發電子-空穴對,形成電荷包,電荷量與光照強度成正比。
- 電荷轉移:通過外部電壓調節勢阱深度,使電荷按順序轉移至輸出端,這一過程依賴精确的時序控制。
- 信號輸出:電荷包經電容器轉換為電壓信號,再通過模數轉換器(ADC)生成數字圖像。
4.性能指标
- 靈敏度:最小照度下的成像能力,與光敏單元效率相關。
- 信噪比(S/N):信號電壓與噪聲電壓的比值,影響圖像質量。
- 有效像素:實際參與感光的像素數,決定分辨率。
5.優缺點與應用
- 優勢:高靈敏度、均勻的像素響應,適合低光環境(如天文觀測)。
- 局限:電荷傳輸速度受限,易出現高光溢出現象(亮區電荷擴散到相鄰像素)。
- 應用:數碼相機、安防監控、醫療成像等。
補充說明
CCD與CMOS傳感器的主要區别在于信號讀取方式:CCD為全局曝光+順序傳輸,而CMOS支持逐像素讀取,後者在速度和功耗上更具優勢,但CCD在成像均勻性上仍有不可替代性。
如需更詳細的技術參數或曆史發展,可參考來源(數字成像系統)及(基礎原理介紹)。
分類
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