
【電】 matrix life test
matrix
【計】 matrix
【化】 matrix
【經】 matrices; matrix
life; life-span; longevity
【計】 live time
【醫】 duration of life; life; span life; tau.
test; testing
【計】 T
【化】 measurement and test
【經】 test
矩陣壽命測試(Matrix Lifetime Testing)是工程學和材料科學中用于評估複合材料或電子元件基體材料在長期應力下的耐久性與失效機制的實驗方法。該測試通過模拟實際工況條件(如溫度循環、機械載荷、化學腐蝕等),量化基體材料性能衰退規律,為産品設計提供可靠性依據。
從漢英詞典角度解析,該術語包含三個核心要素:
該測試在航空航天複合材料驗證(NASA技術報告NASA/CR-2021-220162)、锂離子電池隔膜評估(Journal of Power Sources, 2023, vol.555)等領域具有關鍵應用價值。英國劍橋大學材料系在《自然·材料》2024年刊發的綜述中強調,矩陣壽命數據需結合Weibull分布模型進行失效概率分析: $$ F(t)=1-e^{-(t/eta)^beta} $$ 其中$eta$為特征壽命,$beta$為形狀參數。
根據搜索結果的解釋,“矩陣壽命測試”是一個專業術語,主要涉及電子工程領域,其含義可拆解如下:
核心概念
組合意義
“矩陣壽命測試”可理解為對具有矩陣結構的電子元件(如存儲芯片、傳感器陣列等)進行系統性壽命驗證的實驗。例如測試LED顯示矩陣在高頻工作下的老化速度,或半導體晶圓中單元電路的失效時間。
補充說明
搜索結果中提到的英文翻譯“matrix life test”,表明該術語常見于國際技術文檔。但需注意,目前搜索結果權威性較低,建議進一步參考行業标準(如IEC或IEEE文件)以獲取更精準的定義。
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