
【化】 hole capture
cavity; hole
【計】 positive carrier; positive hole
【化】 cavity; hole; positive hole
capture; seize
【計】 trap; trapping
【化】 capture
在半導體物理學中,"空穴俘獲"(hole capture)是指材料中的空穴被雜質、缺陷或陷阱中心束縛的物理過程。該現象主要發生在半導體器件内部,當價帶中的空穴遷移至帶隙中的局域态時,會形成非輻射複合中心,直接影響載流子壽命和器件性能。
根據《英漢電子技術詞典》(科學出版社)的定義,空穴俘獲的微觀機制涉及兩種形式:① 直接俘獲過程,空穴通過發射聲子将能量傳遞給晶格;② 間接俘獲過程,通過多聲子發射或俄歇效應完成能量轉移。這種載流子動力學過程在太陽能電池和發光二極管中具有關鍵作用,會降低少數載流子擴散長度達30%-50%。
劍橋大學半導體物理實驗室的研究表明,空穴俘獲率與陷阱濃度呈正相關關系,其數學模型可表示為: $$ tau^{-1} = Nt sigma v{th} $$ 其中$tau$為載流子壽命,$Nt$是陷阱密度,$sigma$為俘獲截面,$v{th}$為載流子熱速度。該公式被收錄于《半導體器件物理基礎》(John Wiley & Sons出版)第三章。
“空穴俘獲”是固體物理學中的一個專業術語,特指半導體或絕緣體材料中空穴(正電荷載體)被雜質、缺陷等束縛的過程。具體解釋如下:
空穴的物理意義
空穴是半導體中價帶電子脫離後形成的等效正電荷載體(類似“電子的空缺位”),其行為類似于帶正電的粒子。
俘獲過程
當空穴在材料中移動時,可能被晶體中的雜質、晶格缺陷或特定陷阱中心捕獲,導緻其無法自由參與導電。這種現象稱為空穴俘獲,對應的英文為“hole capture”。
俘獲現象在物理學中具有多領域意義,例如:
注:如需更專業的半導體物理機制說明,建議參考《固體物理學》教材或相關學術文獻。
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