
【化】 hole capture
cavity; hole
【计】 positive carrier; positive hole
【化】 cavity; hole; positive hole
capture; seize
【计】 trap; trapping
【化】 capture
在半导体物理学中,"空穴俘获"(hole capture)是指材料中的空穴被杂质、缺陷或陷阱中心束缚的物理过程。该现象主要发生在半导体器件内部,当价带中的空穴迁移至带隙中的局域态时,会形成非辐射复合中心,直接影响载流子寿命和器件性能。
根据《英汉电子技术词典》(科学出版社)的定义,空穴俘获的微观机制涉及两种形式:① 直接俘获过程,空穴通过发射声子将能量传递给晶格;② 间接俘获过程,通过多声子发射或俄歇效应完成能量转移。这种载流子动力学过程在太阳能电池和发光二极管中具有关键作用,会降低少数载流子扩散长度达30%-50%。
剑桥大学半导体物理实验室的研究表明,空穴俘获率与陷阱浓度呈正相关关系,其数学模型可表示为: $$ tau^{-1} = Nt sigma v{th} $$ 其中$tau$为载流子寿命,$Nt$是陷阱密度,$sigma$为俘获截面,$v{th}$为载流子热速度。该公式被收录于《半导体器件物理基础》(John Wiley & Sons出版)第三章。
“空穴俘获”是固体物理学中的一个专业术语,特指半导体或绝缘体材料中空穴(正电荷载体)被杂质、缺陷等束缚的过程。具体解释如下:
空穴的物理意义
空穴是半导体中价带电子脱离后形成的等效正电荷载体(类似“电子的空缺位”),其行为类似于带正电的粒子。
俘获过程
当空穴在材料中移动时,可能被晶体中的杂质、晶格缺陷或特定陷阱中心捕获,导致其无法自由参与导电。这种现象称为空穴俘获,对应的英文为“hole capture”。
俘获现象在物理学中具有多领域意义,例如:
注:如需更专业的半导体物理机制说明,建议参考《固体物理学》教材或相关学术文献。
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