容易産生測試英文解釋翻譯、容易産生測試的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【計】 easy test generation

allow; appearance; contain; hold; looks; tolerate

amiable; change; easy; exchange

bring; come into being; engender; produce; result; give birth to
【化】 creation; yield
【醫】 production
【經】 accrue

test; testing
【計】 T
【化】 measurement and test
【經】 test

從漢英詞典角度分析，"容易産生測試"作為複合詞組可拆解為三個核心語義單元：

容易（Róngyì / Easy）
在測試語境中指代"無需複雜前置條件即可實施"的特性。牛津詞典将其英譯為"prone to"時強調自然傾向性，如材料測試中易氧化物質的特性描述。
産生（Chǎnshēng / Generate）
劍橋詞典定義為"通過特定過程形成結果"，在軟件測試領域指代通過邊界值分析自動生成測試用例的過程。
測試（Cèshì / Testing）
韋氏詞典強調其雙重含義：既指驗證系統功能的操作集合，也指代質量保證方法論。在硬件測試場景中特指環境耐受性驗證流程。

組合語義顯示該短語存在雙重解讀：

該詞組的權威應用可見于IEEE軟件工程标準829-2020測試文檔規範，其中将"易測性"列為系統設計核心指标。在芯片測試領域，JEDEC JESD89-5标準詳細規定了易産生電荷殘留元件的檢測流程。

“容易産生測試”這一表述需要拆解為“容易”和“産生測試”兩部分來理解：

核心詞“測試”的定義
指通過測量、試驗或考試等方式對設備、系統或知識水平進行驗證的行為。例如對機械性能的檢測（如、3中提到的“測試手表精确度”），或對專業能力的考核（如“進行專業測試”）。
“容易産生”的語境分析
該短語常見于技術領域，描述某類系統或設計具有便于生成測試的特性。例如提到的“容易産生測試的電路”（英語：easy test generation circuit），指電路結構設計有利于自動生成測試用例。
應用場景
多用于描述可測試性設計（Design for Testability），如集成電路設計中通過增加掃描鍊等結構，使芯片更易被檢測故障。這種設計能降低測試複雜度，提升檢測效率。

注：該表述屬于專業術語組合，日常交流中較少使用，需結合具體領域（如電子工程、軟件測試）才能準确定義。