
【化】 line interference; spectral line interference
譜線幹擾(spectral line interference)是光譜分析中因不同元素或同位素的發射/吸收譜線重疊而産生的測量誤差現象。這種現象主要發生在原子發射光譜(AES)、原子吸收光譜(AAS)及電感耦合等離子體質譜(ICP-MS)等領域,可能導緻儀器誤判目标元素的濃度或存在性。
根據國際純粹與應用化學聯合會(IUPAC)的定義,譜線幹擾可分為兩類:
在航天材料檢測中,NASA技術報告指出钼合金的光譜分析需特别規避鎢元素的譜線幹擾。當前解決方案包括使用高分辨率光譜儀、數學校正算法(如偏最小二乘法)以及碰撞反應池技術(以ICP-MS為例)。英國皇家化學會《分析家》期刊的實驗數據顯示,采用動态反應池可将稀土元素檢測中的譜線幹擾降低98%以上。
權威參考資料:
譜線幹擾是光譜分析中因非目标元素的輻射或吸收線重疊導緻的誤差現象,具體解釋如下:
譜線幹擾指在分析元素的特征譜線附近,存在其他元素的發射線或吸收線,導緻測量信號異常(如靈敏度降低或結果偏高)。幹擾可能來源于光源、樣品共存元素或儀器特性。
吸收線重疊幹擾
共存元素的吸收線與待測元素分析線波長相近或完全重疊(如In與Sn、Cd的譜線重疊),導緻信號異常。
光源鄰近發射線幹擾
光源(如空心陰極燈)發射的非吸收線與分析線處于同一光譜通帶内,未被原子化器吸收,形成背景信號。
多原子或帶狀光譜幹擾
在光譜通帶内存在多條吸收線或光源的多重發射線(常見于過渡元素),疊加後影響分析結果。
若光譜通帶寬度為$Delta lambda$,分辨率$R = frac{lambda}{Delta lambda}$,減小$Delta lambda$可提升$R$,有效分離相鄰譜線。
如需更完整信息,可參考相關儀器分析教材或專業文獻。
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