
【化】 line interference; spectral line interference
谱线干扰(spectral line interference)是光谱分析中因不同元素或同位素的发射/吸收谱线重叠而产生的测量误差现象。这种现象主要发生在原子发射光谱(AES)、原子吸收光谱(AAS)及电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)等领域,可能导致仪器误判目标元素的浓度或存在性。
根据国际纯粹与应用化学联合会(IUPAC)的定义,谱线干扰可分为两类:
在航天材料检测中,NASA技术报告指出钼合金的光谱分析需特别规避钨元素的谱线干扰。当前解决方案包括使用高分辨率光谱仪、数学校正算法(如偏最小二乘法)以及碰撞反应池技术(以ICP-MS为例)。英国皇家化学会《分析家》期刊的实验数据显示,采用动态反应池可将稀土元素检测中的谱线干扰降低98%以上。
权威参考资料:
谱线干扰是光谱分析中因非目标元素的辐射或吸收线重叠导致的误差现象,具体解释如下:
谱线干扰指在分析元素的特征谱线附近,存在其他元素的发射线或吸收线,导致测量信号异常(如灵敏度降低或结果偏高)。干扰可能来源于光源、样品共存元素或仪器特性。
吸收线重叠干扰
共存元素的吸收线与待测元素分析线波长相近或完全重叠(如In与Sn、Cd的谱线重叠),导致信号异常。
光源邻近发射线干扰
光源(如空心阴极灯)发射的非吸收线与分析线处于同一光谱通带内,未被原子化器吸收,形成背景信号。
多原子或带状光谱干扰
在光谱通带内存在多条吸收线或光源的多重发射线(常见于过渡元素),叠加后影响分析结果。
若光谱通带宽度为$Delta lambda$,分辨率$R = frac{lambda}{Delta lambda}$,减小$Delta lambda$可提升$R$,有效分离相邻谱线。
如需更完整信息,可参考相关仪器分析教材或专业文献。
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