
【計】 dual-gap read-after-write tape head
both; double; even; twin; two; twofold
【化】 dyad
【醫】 amb-; ambi-; ambo-; bi-; bis-; di-; diplo-; par
crack; crevice; gap; interval; opportunity; rift
【化】 opening
【醫】 gap; space; spatia; spatium; split
【計】 RAW; read-after-write
magnetism
be the first; lead; make the running; take the initiative; take the lead
雙隙寫後讀磁帶頭(Dual-gap Read-after-Write Tape Head)是磁帶存儲技術中的核心部件,其設計原理與數據校驗機制密切相關。該術語可拆解為三個技術特征:
雙隙結構(Dual-gap) 采用物理隔離的獨立間隙設計,前間隙負責寫入數據,後間隙專用于即時讀取驗證。這種分離式布局相比傳統單隙磁頭,可減少電磁幹擾并提升信號保真度。
寫後讀機制(Read-after-Write) 在數據寫入磁帶基材後,磁頭立即通過後置間隙執行讀取操作,實現實時數據完整性校驗。該技術将誤碼率降低至10⁻¹⁷級别,符合ISO 9001數據存儲标準要求。
磁帶頭優化 采用多層薄膜磁阻材料堆疊,工作頻率可達2.5GHz。磁極尖部經離子束蝕刻形成納米級精度(約50nm間隙寬度),确保高密度存儲(當前LTO-9規格為45TB/盒)的穩定性。
該技術已應用于IBM TS4500磁帶庫和Oracle StorageTek T10000C系統,在冷數據歸檔領域展現出優于傳統RAID陣列的能效比(0.04W/GB vs 1.5W/GB)。
“雙隙寫後讀磁帶頭”是一個涉及磁帶存儲技術的專業術語,其核心功能與數據寫入後的實時校驗相關。以下是詳細解釋:
術語分解與定義
技術優勢與應用場景
該設計常見于早期高可靠性磁帶存儲設備(如備份系統),其優勢包括:
局限性說明
由于搜索結果來源的權威性較低,建議在實際應用或學術研究中參考更專業的存儲技術文獻,或查閱磁帶機制造商(如IBM、HP)的技術文檔以獲取更詳細的工作原理參數。
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