
【化】 intrinsic defect; native defect
本征缺陷(Intrinsic Defect)的汉英词典解释
在材料科学与半导体物理领域,本征缺陷(Intrinsic Defect) 指晶体结构中由材料自身固有属性(如热力学平衡)引起的原子排列缺陷,不依赖外来杂质或外部条件。其英文对应术语为"intrinsic defect" 或"native defect"。
定义与形成机制
本征缺陷是晶体在热平衡状态下自发形成的点缺陷,主要类型包括:
这些缺陷源于原子热振动导致的能量起伏,符合熵增原理。
与杂质缺陷的区别
本征缺陷区别于由掺杂或污染引入的杂质缺陷(Extrinsic Defect)。例如,硅晶体中的磷原子掺杂属于杂质缺陷,而硅原子空位是本征缺陷。
$$
C = C_0 expleft(-frac{E_f}{k_B T}right)
$$
其中 (E_f) 为缺陷形成能,(k_B) 为玻尔兹曼常数。
"本征缺陷是纯净晶体中因热力学平衡必然存在的缺陷。" —— 《材料科学基础》(ISBN 978-7-04-050673-5),高等教育出版社。
国际纯粹与应用化学联合会(IUPAC)将本征缺陷归类为"非化学计量缺陷",区别于杂质引入的缺陷(Compendium of Chemical Terminology, Gold Book, 2019)。
引用来源
“本征缺陷”是材料科学中的术语,指晶体内部因自身原子排列异常形成的缺陷,不依赖外来杂质。以下是详细解释:
本征缺陷是晶体在热力学平衡条件下,由组成晶体的原子(或离子)自身热运动引起的点缺陷。这类缺陷的产生与温度密切相关,温度升高时原子热振动加剧,可能脱离原位置形成空位或间隙原子。
本征缺陷分为两类(参考):
本征缺陷会改变晶体的导电性、光学性质及机械性能。例如,半导体材料中本征缺陷的热激发是导电的基础;而陶瓷材料中的空位可能影响离子迁移率。
本征缺陷是晶体固有属性,区别于杂质缺陷,其类型和浓度受温度调控,对材料性能有重要影响。
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