
【电】 destructive read-out
damage; destroy; demolish; depredate; devastate; perish; ravage; ruin
【经】 ruin
numerate
【计】 read-out
【经】 read off; read out
"毁坏性读出"(Destructive Readout)是计算机存储技术领域的专业术语,指在读取存储介质数据的过程中,原有数据因物理特性被破坏的现象。该概念常见于动态随机存取存储器(DRAM)和早期磁芯存储器领域。
根据《IEEE计算机词典》(IEEE Standard Computer Dictionary)的定义,毁坏性读出的核心特征包含:
在DRAM应用中,存储单元通过电容电荷表示二进制数据。读取操作时电荷被释放检测,导致原始数据丢失。此时必须通过刷新电路在读取后立即重写数据,该机制被《计算机组成与设计:硬件/软件接口》(Computer Organization and Design: The Hardware/Software Interface)教材详细阐述。
这种现象具有双重影响:
牛津大学出版社《电子工程术语辞典》(A Dictionary of Electronics and Electrical Engineering)特别指出,现代存储技术通过电荷再生放大器(sense amplifier)和纠错码(ECC)技术已大幅降低毁坏性读出的实际影响。
“毁坏性读出”是一个较为专业的术语,主要用于描述在读取数据或信息时导致原始内容被破坏或无法恢复的过程。以下是综合相关信息的解释:
如需更完整的解释,可参考计算机硬件或数据存储领域的专业资料。
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