德拜－謝勒法英文解釋翻譯、德拜－謝勒法的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 Debye-Scherrer method

分詞翻譯：

德拜的英語翻譯：

【化】 debye

謝的英語翻譯：

decline; excuse oneself; thank; wither

勒的英語翻譯：

rein in; tie sth. tight
【醫】 lux; meter candle

法的英語翻譯：

dharma; divisor; follow; law; standard
【醫】 method
【經】 law

專業解析

德拜－謝勒法（Debye-Scherrer Method），又稱粉末法或德拜-謝樂法，是X射線衍射分析中用于測定多晶材料晶體結構的一種經典技術。該方法由彼得·德拜（Peter Debye）和保羅·謝勒（Paul Scherrer）于1916年獨立提出，其核心原理是通過X射線照射旋轉的粉末樣品，利用晶體晶面對X射線的衍射來獲取材料的晶體學信息。

一、術語定義與原理

中英對照定義
- 德拜－謝勒法 (Debye-Scherrer Method)：一種基于X射線衍射的粉末晶體分析法，通過記錄多晶樣品産生的衍射環（德拜環）來确定晶面間距和晶體結構。
- 核心公式：布拉格定律（Bragg's Law）是該方法的基礎：
  $$ nlambda = 2d sintheta $$
  
  其中 (lambda) 為X射線波長，(d) 為晶面間距，(theta) 為衍射角。
實驗特征
- 樣品為細磨的粉末（粒徑約1–10 μm），确保晶體取向隨機分布。
- 衍射圖案呈同心圓環（德拜環），環的半徑對應衍射角 (theta)，通過測量環間距可計算晶胞參數。

二、應用與優勢

材料分析領域
- 物相鑒定：比對标準衍射數據庫（如PDF卡片）識别未知晶體。
- 晶粒尺寸估算：通過衍射峰寬化效應（Scherrer公式）計算納米晶尺寸。
- 應力分析：晶格畸變引起的衍射峰位移可評估材料殘餘應力。
技術優勢
- 樣品制備簡單，無需單晶；
- 可同時分析多晶混合物中各相的結構信息。

三、權威參考文獻

經典著作
- Cullity, B. D. & Stock, S. R. Elements of X-ray Diffraction（3rd ed.). Prentice Hall, 2001. 系統闡述德拜法的理論基礎與實驗設計。
- International Union of Crystallography (IUCr). Powder Diffraction: Theory and Practice. RSC Publishing, 2008. 涵蓋現代粉末衍射技術發展。
學術機構指南
- 美國國家标準與技術研究院（NIST）材料數據實驗室發布的《X射線粉末衍射标準方法指南》（NIST SP 960-15），提供标準化實驗流程與數據分析規範。
- 劍橋晶體學數據中心（CCDC）的Powder Diffraction File™（PDF®）數據庫，收錄超百萬條晶體衍射參考數據。

注：以上文獻可通過學術數據庫（如Web of Science、ScienceDirect）或機構官網獲取全文。實驗操作建議參考ISO 20203:2015《X射線粉末衍射定量分析》國際标準。

網絡擴展解釋

德拜-謝勒法（Debye-Scherrer method）是一種基于X射線衍射原理的實驗技術，主要用于分析多晶或粉末材料的晶體結構。以下是其核心要點：

定義與原理
該方法通過X射線照射多晶樣品，利用晶體中原子的周期性排列對X射線的衍射效應，記錄衍射圖案并分析材料結構。其核心公式為布拉格方程：
$$
nlambda = 2dsintheta
$$
其中，( lambda )為X射線波長，( d )為晶面間距，( theta )為衍射角。
曆史背景
由荷蘭物理學家彼得·德拜（Peter Debye）和瑞士科學家保羅·謝樂（Paul Scherrer）于1916年共同提出。德拜因在X射線衍射和分子偶極矩理論的貢獻，于1936年獲得諾貝爾化學獎。
實驗裝置與方法
- 使用德拜相機（圓筒形裝置），内壁貼長條形底片，樣品為細棒狀多晶或粉末。
- X射線通過光闌入射，衍射圖案以同心圓弧形式記錄在底片上，通過測量圓弧間距計算晶格參數。
應用與意義
主要用于确定晶體結構、晶格常數及物相分析，尤其適用于無法制備單晶的粉末材料。其優勢在于樣品制備簡單，且可同時獲取多個衍射信息。

補充說明：德拜因拒絕加入納粹德國國籍，二戰後移居美國，其研究推動了材料科學和化學領域的重大進展。如需實驗細節或公式推導，可進一步查閱X射線衍射相關文獻。