德拜－谢勒法英文解释翻译、德拜－谢勒法的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【化】 Debye-Scherrer method

分词翻译：

德拜的英语翻译：

【化】 debye

谢的英语翻译：

decline; excuse oneself; thank; wither

勒的英语翻译：

rein in; tie sth. tight
【医】 lux; meter candle

法的英语翻译：

dharma; divisor; follow; law; standard
【医】 method
【经】 law

专业解析

德拜－谢勒法（Debye-Scherrer Method），又称粉末法或德拜-谢乐法，是X射线衍射分析中用于测定多晶材料晶体结构的一种经典技术。该方法由彼得·德拜（Peter Debye）和保罗·谢勒（Paul Scherrer）于1916年独立提出，其核心原理是通过X射线照射旋转的粉末样品，利用晶体晶面对X射线的衍射来获取材料的晶体学信息。

一、术语定义与原理

中英对照定义
- 德拜－谢勒法 (Debye-Scherrer Method)：一种基于X射线衍射的粉末晶体分析法，通过记录多晶样品产生的衍射环（德拜环）来确定晶面间距和晶体结构。
- 核心公式：布拉格定律（Bragg's Law）是该方法的基础：
  $$ nlambda = 2d sintheta $$
  
  其中 (lambda) 为X射线波长，(d) 为晶面间距，(theta) 为衍射角。
实验特征
- 样品为细磨的粉末（粒径约1–10 μm），确保晶体取向随机分布。
- 衍射图案呈同心圆环（德拜环），环的半径对应衍射角 (theta)，通过测量环间距可计算晶胞参数。

二、应用与优势

材料分析领域
- 物相鉴定：比对标准衍射数据库（如PDF卡片）识别未知晶体。
- 晶粒尺寸估算：通过衍射峰宽化效应（Scherrer公式）计算纳米晶尺寸。
- 应力分析：晶格畸变引起的衍射峰位移可评估材料残余应力。
技术优势
- 样品制备简单，无需单晶；
- 可同时分析多晶混合物中各相的结构信息。

三、权威参考文献

经典著作
- Cullity, B. D. & Stock, S. R. Elements of X-ray Diffraction（3rd ed.). Prentice Hall, 2001. 系统阐述德拜法的理论基础与实验设计。
- International Union of Crystallography (IUCr). Powder Diffraction: Theory and Practice. RSC Publishing, 2008. 涵盖现代粉末衍射技术发展。
学术机构指南
- 美国国家标准与技术研究院（NIST）材料数据实验室发布的《X射线粉末衍射标准方法指南》（NIST SP 960-15），提供标准化实验流程与数据分析规范。
- 剑桥晶体学数据中心（CCDC）的Powder Diffraction File™（PDF®）数据库，收录超百万条晶体衍射参考数据。

注：以上文献可通过学术数据库（如Web of Science、ScienceDirect）或机构官网获取全文。实验操作建议参考ISO 20203:2015《X射线粉末衍射定量分析》国际标准。

网络扩展解释

德拜-谢勒法（Debye-Scherrer method）是一种基于X射线衍射原理的实验技术，主要用于分析多晶或粉末材料的晶体结构。以下是其核心要点：

定义与原理
该方法通过X射线照射多晶样品，利用晶体中原子的周期性排列对X射线的衍射效应，记录衍射图案并分析材料结构。其核心公式为布拉格方程：
$$
nlambda = 2dsintheta
$$
其中，( lambda )为X射线波长，( d )为晶面间距，( theta )为衍射角。
历史背景
由荷兰物理学家彼得·德拜（Peter Debye）和瑞士科学家保罗·谢乐（Paul Scherrer）于1916年共同提出。德拜因在X射线衍射和分子偶极矩理论的贡献，于1936年获得诺贝尔化学奖。
实验装置与方法
- 使用德拜相机（圆筒形装置），内壁贴长条形底片，样品为细棒状多晶或粉末。
- X射线通过光阑入射，衍射图案以同心圆弧形式记录在底片上，通过测量圆弧间距计算晶格参数。
应用与意义
主要用于确定晶体结构、晶格常数及物相分析，尤其适用于无法制备单晶的粉末材料。其优势在于样品制备简单，且可同时获取多个衍射信息。

补充说明：德拜因拒绝加入纳粹德国国籍，二战后移居美国，其研究推动了材料科学和化学领域的重大进展。如需实验细节或公式推导，可进一步查阅X射线衍射相关文献。