電子探針微區分析英文解釋翻譯、電子探針微區分析的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 electron probe micro-analysis

分詞翻譯：

電子探針的英語翻譯：

【化】 electron probe

微的英語翻譯：

decline; profound; tiny
【計】 mic-; micro-
【醫】 micr-; micro-; mikro-; mu

區的英語翻譯：

area; borough; classify; distinguish; district; region; section
【計】 region
【醫】 area; belt; field; quarter; regio; region; zona; zone

分析的英語翻譯：

analyze; construe; analysis; assay
【計】 parser
【化】 analysis; assaying
【醫】 analysis; anslyze
【經】 analyse

專業解析

電子探針微區分析（Electron Probe Microanalysis, EPMA）是一種利用聚焦電子束轟擊樣品微小區域，通過檢測激發出的特征X射線進行元素成分定性和定量分析的高精度技術。其核心原理基于電子與物質相互作用産生的特征X射線譜，每種元素具有獨特的X射線能量或波長，借此實現對微米尺度區域（通常1微米至數微米）内元素種類與含量的測定。

核心原理與過程

電子束激發：高能電子束經電磁透鏡聚焦後轟擊樣品表面微小區域，使樣品原子内層電子被激發或電離。
特征X射線發射：受激原子退激時釋放特征X射線（能量或波長與元素種類一一對應）。
信號檢測：
- 波譜儀（WDS）：通過晶體分光檢測特定波長X射線，精度高（檢測限達0.01%），適用于痕量元素分析。
- 能譜儀（EDS）：直接測量X射線能量，分析速度快但分辨率較低。
定量分析：通過對比樣品與标準樣品的X射線強度，結合ZAF（原子序數-吸收-熒光效應）校正模型計算元素濃度。

技術特點

空間分辨率高：可分析微米級區域，適用于材料微區成分、夾雜物或相組成研究。
元素範圍廣：可檢測硼（B）至鈾（U）的元素，濃度範圍從100%至ppm級。
無損分析：通常對樣品表面損傷極小，可進行多點或面掃描分析。

典型應用領域

材料科學：合金相成分、半導體摻雜分析、陶瓷界面反應等。
地質學：礦物成因研究、包裹體成分測定。
失效分析：金屬腐蝕産物、焊接界面元素擴散表征。

權威參考來源

中國科學院上海矽酸鹽研究所《電子探針分析技術原理及應用》[來源：中國科學院上海矽酸鹽研究所]
美國材料與試驗協會（ASTM）标準 E1508 Standard Practice for Quantitative Analysis by Energy-Dispersive Spectroscopy [來源：ASTM International]
Goldstein, J.I. et al. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis（第四版），Springer出版社，詳細闡述EPMA理論基礎與實驗方法 [來源：Springer學術專著]。

（注：由于實時數據限制，部分來源鍊接未提供，建議通過學術數據庫或機構官網檢索上述文獻。）

網絡擴展解釋

電子探針微區分析（Electron Probe Microanalysis, EPMA）是一種結合顯微結構與化學成分分析的微區檢測技術，主要用于微小區域（通常為微米至納米級别）的元素定性和定量分析。以下是其核心要點：

1.基本原理

通過聚焦的高能電子束轟擊樣品表面，激發樣品中元素的特征X射線。根據X射線的波長（波譜儀，WDS）或能量（能譜儀，EDS）判斷元素種類（定性分析），通過強度計算元素含量（定量分析）。

2.儀器組成

主要包含：

電子光學系統：産生和聚焦電子束（電子槍、透鏡、掃描線圈）。
樣品室：放置樣品并精确定位分析區域。
X射線分光計：包括波譜儀或能譜儀，用于分離和檢測特征X射線。
檢測與記錄系統：處理信號并生成元素分布圖像或數據。

3.核心特點

高靈敏度：檢出限低至0.01%~0.05%，可分析元素周期表中硼（B）至鈾（U）的所有元素。
微區無損：分析體積小（約1立方微米），基本不損傷樣品表面。
多模态結合：可同時獲取元素分布圖（如二次電子像、背散射電子像）與成分數據。

4.應用領域

材料科學：研究合金、陶瓷等材料的成分偏析、相組成。
地質學：礦物微區成分分析及元素賦存狀态研究。
半導體工業：檢測芯片缺陷或雜質分布。
考古與生物：文物表面成分鑒定或生物組織微量元素分析。

5.技術優勢與局限

優勢：定量精度高（誤差±2%以内），空間分辨率達納米級。
局限：無法檢測氫、氦等輕元素；樣品需導電或鍍膜處理。

如需更完整的儀器參數或案例分析，可參考科學指南針及道客巴巴等來源。