电子探针微区分析英文解释翻译、电子探针微区分析的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【化】 electron probe micro-analysis

分词翻译：

电子探针的英语翻译：

【化】 electron probe

微的英语翻译：

decline; profound; tiny
【计】 mic-; micro-
【医】 micr-; micro-; mikro-; mu

区的英语翻译：

area; borough; classify; distinguish; district; region; section
【计】 region
【医】 area; belt; field; quarter; regio; region; zona; zone

分析的英语翻译：

analyze; construe; analysis; assay
【计】 parser
【化】 analysis; assaying
【医】 analysis; anslyze
【经】 analyse

专业解析

电子探针微区分析（Electron Probe Microanalysis, EPMA）是一种利用聚焦电子束轰击样品微小区域，通过检测激发出的特征X射线进行元素成分定性和定量分析的高精度技术。其核心原理基于电子与物质相互作用产生的特征X射线谱，每种元素具有独特的X射线能量或波长，借此实现对微米尺度区域（通常1微米至数微米）内元素种类与含量的测定。

核心原理与过程

电子束激发：高能电子束经电磁透镜聚焦后轰击样品表面微小区域，使样品原子内层电子被激发或电离。
特征X射线发射：受激原子退激时释放特征X射线（能量或波长与元素种类一一对应）。
信号检测：
- 波谱仪（WDS）：通过晶体分光检测特定波长X射线，精度高（检测限达0.01%），适用于痕量元素分析。
- 能谱仪（EDS）：直接测量X射线能量，分析速度快但分辨率较低。
定量分析：通过对比样品与标准样品的X射线强度，结合ZAF（原子序数-吸收-荧光效应）校正模型计算元素浓度。

技术特点

空间分辨率高：可分析微米级区域，适用于材料微区成分、夹杂物或相组成研究。
元素范围广：可检测硼（B）至铀（U）的元素，浓度范围从100%至ppm级。
无损分析：通常对样品表面损伤极小，可进行多点或面扫描分析。

典型应用领域

材料科学：合金相成分、半导体掺杂分析、陶瓷界面反应等。
地质学：矿物成因研究、包裹体成分测定。
失效分析：金属腐蚀产物、焊接界面元素扩散表征。

权威参考来源

中国科学院上海硅酸盐研究所《电子探针分析技术原理及应用》[来源：中国科学院上海硅酸盐研究所]
美国材料与试验协会（ASTM）标准 E1508 Standard Practice for Quantitative Analysis by Energy-Dispersive Spectroscopy [来源：ASTM International]
Goldstein, J.I. et al. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis（第四版），Springer出版社，详细阐述EPMA理论基础与实验方法 [来源：Springer学术专著]。

（注：由于实时数据限制，部分来源链接未提供，建议通过学术数据库或机构官网检索上述文献。）

网络扩展解释

电子探针微区分析（Electron Probe Microanalysis, EPMA）是一种结合显微结构与化学成分分析的微区检测技术，主要用于微小区域（通常为微米至纳米级别）的元素定性和定量分析。以下是其核心要点：

1.基本原理

通过聚焦的高能电子束轰击样品表面，激发样品中元素的特征X射线。根据X射线的波长（波谱仪，WDS）或能量（能谱仪，EDS）判断元素种类（定性分析），通过强度计算元素含量（定量分析）。

2.仪器组成

主要包含：

电子光学系统：产生和聚焦电子束（电子枪、透镜、扫描线圈）。
样品室：放置样品并精确定位分析区域。
X射线分光计：包括波谱仪或能谱仪，用于分离和检测特征X射线。
检测与记录系统：处理信号并生成元素分布图像或数据。

3.核心特点

高灵敏度：检出限低至0.01%~0.05%，可分析元素周期表中硼（B）至铀（U）的所有元素。
微区无损：分析体积小（约1立方微米），基本不损伤样品表面。
多模态结合：可同时获取元素分布图（如二次电子像、背散射电子像）与成分数据。

4.应用领域

材料科学：研究合金、陶瓷等材料的成分偏析、相组成。
地质学：矿物微区成分分析及元素赋存状态研究。
半导体工业：检测芯片缺陷或杂质分布。
考古与生物：文物表面成分鉴定或生物组织微量元素分析。

5.技术优势与局限

优势：定量精度高（误差±2%以内），空间分辨率达纳米级。
局限：无法检测氢、氦等轻元素；样品需导电或镀膜处理。

如需更完整的仪器参数或案例分析，可参考科学指南针及道客巴巴等来源。