電子探針Ｘ射線微量分析英文解釋翻譯、電子探針Ｘ射線微量分析的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 electron probe X-ray microanalysis; EPXMA

分詞翻譯：

電子探針的英語翻譯：

【化】 electron probe

射線的英語翻譯：

radial; ray
【醫】 radiation; ray

微量分析的英語翻譯：

microanalysis
【化】 microanalysis
【醫】 microanalysis

專業解析

電子探針X射線微量分析（Electron Probe X-ray Microanalysis，EPMA）是一種基于電子束與物質相互作用原理的微觀成分分析技術。該技術通過聚焦電子束轟擊樣品表面，激發樣品原子内層電子躍遷并釋放特征X射線，利用波長色散譜儀（WDS）或能量色散譜儀（EDS）檢測特征X射線的波長或能量，進而确定樣品中元素的種類及其含量。

根據《分析化學術語國家标準》（GB/T 14666-2023），該技術具有0.1-1 μm的空間分辨率和百萬分之一的檢測靈敏度，可實現對固體樣品微區成分的定性與定量分析。其核心公式為ZAF修正公式： $$ varphi(rho z) = frac{I}{I_0} = kZAF $$ 式中$varphi(rho z)$表示X射線強度比，$Z$為原子序數修正因子，$A$為吸收修正因子，$F$為熒光修正因子。

在材料科學領域，該技術被廣泛應用于金屬夾雜物分析、礦物相鑒定及半導體材料表征。美國材料試驗協會（ASTM E1508-22）明确指出，EPMA的定量分析需配合标準樣品進行校準，采用Cliff-Lorimer比值法可提升輕元素（如B、C、N）的檢測精度。英國皇家顯微學會（Royal Microscopical Society）的研究報告顯示，配備場發射電子槍的現代EPMA系統可實現納米尺度的成分映射分析。

網絡擴展解釋

電子探針X射線微量分析（簡稱EPMA）是一種結合顯微形貌觀察與化學成分分析的微區檢測技術，其核心原理是利用聚焦電子束激發樣品表面元素特征X射線，通過分析射線波長（或能量）和強度實現定性與定量分析。以下是詳細解釋：

一、基本原理

特征X射線産生
當高能電子束轟擊樣品表面時，原子内層電子被擊出形成空位，外層電子躍遷填補空位并釋放能量，産生特征X射線。
公式表達：
$$ E = h u = frac{hc}{lambda} $$
其中，$E$為X射線能量，$lambda$為波長，$h$為普朗克常數，$c$為光速。
元素識别與定量
- 定性分析：通過測量特征X射線的波長（波譜儀WDS）或能量（能譜儀EDS）确定元素種類。
- 定量分析：根據X射線強度計算元素含量，相對精度可達±1%~5%。

二、儀器組成

電子光學系統：包括電子槍、電磁透鏡和掃描線圈，産生直徑約0.1~1μm的細聚焦電子束。
信號檢測系統：分為波譜儀（WDS）和能譜儀（EDS），分别用于測量X射線波長和能量。
輔助系統：真空系統、樣品室及計算機數據處理單元。

三、特點與優勢

微區分析：最小分析區域約1立方微米，適用于微小區域成分檢測。
無損檢測：樣品表面無需特殊處理，分析後基本無損傷。
多元素覆蓋：可檢測铍（Be）至鈾（U）的元素，檢出限低至0.01%~0.05%。
多功能性：兼具元素分布成像（如二次電子像、背散射電子像）和成分分析能力。

四、應用領域

材料科學：金屬、陶瓷等材料的元素分布與相結構研究。
地質學：礦物成分分析及微區元素遷移規律。
工業檢測：電子元件、塗層材料的缺陷與成分分析。

五、局限性

對輕元素（如H、He）檢測靈敏度較低；
定量分析需依賴标樣校準。

如需進一步了解具體實驗流程或技術細節，、和中的專業文獻。