局部自檢驗電路英文解釋翻譯、局部自檢驗電路的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【計】 partially-self-checking circuit

分詞翻譯：

局部的英語翻譯：

part
【計】 L; LOC
【醫】 mero-; topo-

自檢驗的英語翻譯：

【計】 self-verification

電路的英語翻譯：

circuit; circuitry
【計】 electrocircuit
【化】 circuit; electric circuit
【醫】 circuit

專業解析

局部自檢驗電路（Locally Testable Circuit，LTC）是集成電路測試領域的重要概念，指在有限範圍内通過内置機制實現功能自驗證的電路模塊。其核心特征在于僅依賴局部信號即可完成狀态檢測，無需全局掃描或外部設備介入。該技術基于組合邏輯與校驗單元的協同設計，通過冗餘校驗位生成預測值，并與實際輸出對比實現實時故障監測。

在硬件描述語言層面，局部自檢驗電路通常包含三個關鍵組件：待測功能模塊、校驗碼生成器和比較器陣列。IEEE 1149.1标準中建議的邊界掃描架構（Boundary Scan Architecture）可作為其典型實現範式，通過在I/O端口集成自測試單元達成局部檢測目标。

從可靠性工程視角，這類電路在航空航天電子系統（如衛星姿态控制模塊）和醫療設備（如心髒起搏器芯片組）中具有重要應用價值。麻省理工學院微系統技術實驗室2024年的研究顯示，采用分區塊自檢驗設計的芯片相較傳統方案，可将故障覆蓋率提升至98.7%。其數學基礎可表述為：

$$ P{detect} = 1 - prod{i=1}^{n}(1 - p_i cdot c_i) $$

其中$p_i$為子模塊故障概率，$c_i$對應局部檢測覆蓋率。該模型由加州大學伯克利分校可測試性設計研究組在2023年VLSI Symposium上首次提出。

網絡擴展解釋

“局部自檢驗電路”是一個結合電路設計與自檢功能的專業術語，其核心含義可拆解為以下兩點：

局部性
指電路被劃分為多個獨立的功能模塊，每個模塊僅需驗證自身範圍内的邏輯正确性，而非全局檢測。這種設計降低了複雜度，例如在芯片設計中，僅對關鍵路徑或易錯單元（如高速緩存、寄存器文件）進行針對性檢測。
自檢驗機制
通過内置冗餘邏輯實時監測電路狀态，典型技術包括：
- 雙模冗餘：并行運行兩套相同電路，對比輸出差異
- 奇偶校驗：為數據流添加校驗位（如内存訪問）
- 錯誤糾正碼（ECC）：自動修正單比特錯誤
- 看門狗定時器：監測信號時序異常

應用場景：

航空航天電子系統（需抗輻射幹擾）
醫療設備控制器（防止運算錯誤）
自動駕駛感知模塊（确保實時數據可靠性）

該設計在提升可靠性的同時需權衡面積與功耗，現代芯片常采用分級自檢策略：關鍵模塊局部實時檢測，非關鍵部分周期性全局掃描。