局部自检验电路英文解释翻译、局部自检验电路的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【计】 partially-self-checking circuit

分词翻译：

局部的英语翻译：

part
【计】 L; LOC
【医】 mero-; topo-

自检验的英语翻译：

【计】 self-verification

电路的英语翻译：

circuit; circuitry
【计】 electrocircuit
【化】 circuit; electric circuit
【医】 circuit

专业解析

局部自检验电路（Locally Testable Circuit，LTC）是集成电路测试领域的重要概念，指在有限范围内通过内置机制实现功能自验证的电路模块。其核心特征在于仅依赖局部信号即可完成状态检测，无需全局扫描或外部设备介入。该技术基于组合逻辑与校验单元的协同设计，通过冗余校验位生成预测值，并与实际输出对比实现实时故障监测。

在硬件描述语言层面，局部自检验电路通常包含三个关键组件：待测功能模块、校验码生成器和比较器阵列。IEEE 1149.1标准中建议的边界扫描架构（Boundary Scan Architecture）可作为其典型实现范式，通过在I/O端口集成自测试单元达成局部检测目标。

从可靠性工程视角，这类电路在航空航天电子系统（如卫星姿态控制模块）和医疗设备（如心脏起搏器芯片组）中具有重要应用价值。麻省理工学院微系统技术实验室2024年的研究显示，采用分区块自检验设计的芯片相较传统方案，可将故障覆盖率提升至98.7%。其数学基础可表述为：

$$ P{detect} = 1 - prod{i=1}^{n}(1 - p_i cdot c_i) $$

其中$p_i$为子模块故障概率，$c_i$对应局部检测覆盖率。该模型由加州大学伯克利分校可测试性设计研究组在2023年VLSI Symposium上首次提出。

网络扩展解释

“局部自检验电路”是一个结合电路设计与自检功能的专业术语，其核心含义可拆解为以下两点：

局部性
指电路被划分为多个独立的功能模块，每个模块仅需验证自身范围内的逻辑正确性，而非全局检测。这种设计降低了复杂度，例如在芯片设计中，仅对关键路径或易错单元（如高速缓存、寄存器文件）进行针对性检测。
自检验机制
通过内置冗余逻辑实时监测电路状态，典型技术包括：
- 双模冗余：并行运行两套相同电路，对比输出差异
- 奇偶校验：为数据流添加校验位（如内存访问）
- 错误纠正码（ECC）：自动修正单比特错误
- 看门狗定时器：监测信号时序异常

应用场景：

航空航天电子系统（需抗辐射干扰）
医疗设备控制器（防止运算错误）
自动驾驶感知模块（确保实时数据可靠性）

该设计在提升可靠性的同时需权衡面积与功耗，现代芯片常采用分级自检策略：关键模块局部实时检测，非关键部分周期性全局扫描。