
【計】 disturbed test
disturb; interfere; jam; molest; obstruct; violate
【計】 interference
【化】 disturbance
【醫】 brushing; interfere; interference
test; testing
【計】 T
【化】 measurement and test
【經】 test
在電子工程與通信領域,"幹擾測試"(英文:Interference Testing)指評估電子設備或系統在電磁幹擾(EMI)環境下維持正常功能的能力的測試方法。其核心目的是驗證設備抗外部幹擾的魯棒性,确保符合電磁兼容性(EMC)标準。
漢英對照釋義
來源:IEEE Electromagnetic Compatibility Society術語庫
核心目标
傳導幹擾測試(Conducted Interference Testing)
通過電源線或信號線注入幹擾信號,檢測設備對低頻幹擾(如0.15–30MHz)的耐受性。
參考:IEC 61000-4-6标準(射頻場感應的傳導騷擾抗擾度)
輻射幹擾測試(Radiated Interference Testing)
在電波暗室中暴露設備至高頻電磁場(如80MHz–6GHz),評估天線、電路闆的抗輻射能力。
參考:CISPR 16-2-3(輻射騷擾測量方法)
注:以上鍊接為相關機構官網,标準編號與文獻信息可定向檢索驗證。
幹擾測試是一種通過引入幹擾因素來評估被測對象性能穩定性和可靠性的試驗方法。以下是其核心要點:
定義
幹擾測試指在特定環境下,人為引入幹擾因素(如電磁、機械、化學等),觀察被測對象性能變化的過程。在分析化學中,它特指檢測共存物對測量結果的系統誤差。
目的
評估被測對象在幹擾條件下的穩定性,驗證其抗幹擾能力,并為産品優化提供依據。
按幹擾性質
按測試條件
電磁兼容測試
化學幹擾實驗
采用掩蔽劑(如硫酸銀)消除特定離子幹擾
如需更詳細測試流程或行業标準,可參考、4、8的原始資料。
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