
【計】 NDRO; nondestructive read-out
非破壞讀出(Non-destructive Readout)是計算機科學與電子工程領域的重要術語,指在數據讀取過程中保持原始存儲介質完整性且不改變其内容的技術。該概念廣泛應用于存儲器設計(如DRAM、MRAM)、傳感器系統和量子計算等領域。其核心原理是通過物理或邏輯手段分離讀取信號與存儲單元狀态,例如利用電荷感應而非電荷轉移(DRAM技術),或基于磁阻效應讀取磁性材料狀态(MRAM技術)。
與傳統破壞性讀取相比,非破壞讀出的技術優勢體現在三方面:
國際電子電氣工程師協會(IEEE)在《存儲技術白皮書》中強調,非破壞讀出技術已成為新型存儲器研發的關鍵指标,特别是在高密度存儲和低功耗設備領域。牛津大學出版社的《英漢電子工程辭典》進一步指出,該技術對實現存算一體架構具有基礎支撐作用。
“非破壞讀出”(Non-Destructive Readout,簡稱NDRO)是計算機存儲技術中的術語,指在不破壞存儲介質原有數據的前提下完成數據讀取操作。以下是詳細解釋:
在鐵電存儲器(如提到的技術)中,數據以電極化狀态存儲。非破壞讀出的實現方式包括:
根據專利,非破壞讀出方法涉及電極化材料的特性檢測,例如通過預定的電壓協議或電容測量區分邏輯狀态。
如需進一步了解具體技術實現細節,可參考相關專利文獻或技術文檔。
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