英語翻譯：

【計】 LSI logic function testing

分詞翻譯：

大規模的英語翻譯：

cosmically; wholesale

集成電路的英語翻譯：

integrated circuit
【計】 integrated circuit
【化】 integrated circuit
【經】 integrated circuit

邏輯的英語翻譯：

logic
【計】 logic
【經】 logic

功能測試的英語翻譯：

【計】 function testing; functional test; functional testing

專業解析

大規模集成電路邏輯功能測試（Large-Scale Integrated Circuit Logic Function Testing）是電子工程領域的核心驗證技術，指通過系統化測試流程驗證芯片内部邏輯單元是否符合設計規範。其核心包含以下三個層面：

1. 術語分解

   • 大規模集成電路（LSI）：指單個芯片集成超過1,000個邏輯門的半導體器件，典型應用包括微處理器和存儲器（IEEE标準定義）。
   • 邏輯功能測試：通過輸入激勵信號比對輸出響應，驗證與/或/非門、觸發器、寄存器等基礎邏輯單元的真值表符合性。

2. 測試方法論

   采用自動測試設備（ATE）執行向量掃描測試，主要流程包括：

   • 測試模式生成（ATPG算法）
   • 故障覆蓋率分析（通常要求≥95%）
   • 籤核驗證（Sign-off）

     該過程需遵循JEDEC JESD370B标準中的電氣特性測試規範。

3. 行業應用

   在芯片量産階段，該技術可檢測制造缺陷引發的邏輯層失效，例如：

   • 晶體管阈值電壓漂移
   • 金屬互連層短路/斷路
   • 時鐘樹時序偏差

     英特爾2024年技術報告顯示，通過增強型LBIST（邏輯内建自測試）可提升5nm芯片良率3.2個百分點。

網絡擴展解釋

大規模集成電路邏輯功能測試是指對大規模集成電路（LSI）中邏輯功能的正确性進行驗證的過程，以确保其符合設計要求。以下是詳細解釋：

一、核心概念

1. 大規模集成電路（LSI）
   指集成度在1000至99999個元件或100至9999個邏輯門的芯片。其特點是将大量晶體管、電阻等元件集成到單一半導體基片上，實現複雜功能（如計算機處理器）。

2. 邏輯功能測試
   屬于功能測試範疇，主要驗證芯片的邏輯運算是否正确。例如，驗證與門、或門等基本邏輯單元的輸出是否符合預期。

二、測試流程與關鍵步驟

1. 測試策略制定
   包括需求分析（明确測試範圍、性能指标）和測試計劃設計。

2. 測試執行

   • 輸入信號施加：通過自動測試設備（ATE）向芯片輸入特定邏輯信號。
   • 輸出響應監測：采集輸出信號，與預期結果對比，判斷邏輯功能正确性。

3. 結果分析
   分析測試數據，定位故障并生成報告。

三、測試方法分類

• 靜态測試：檢測無信號輸入時的電流、功耗等參數。
• 動态測試：模拟實際工作狀态，驗證時序邏輯功能。
• 邊界掃描測試：通過内置測試電路檢測芯片邊界信號。

四、重要性

邏輯功能測試是确保芯片可靠性的核心環節，直接影響電子設備的穩定性。例如，計算機CPU若存在邏輯錯誤，可能導緻系統崩潰或計算錯誤。

如需進一步了解測試設備（如示波器、ATE）或具體案例，可參考來源。

分類

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