大规模集成电路逻辑功能测试英文解释翻译、大规模集成电路逻辑功能测试的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【计】 LSI logic function testing

分词翻译：

大规模的英语翻译：

cosmically; wholesale

集成电路的英语翻译：

integrated circuit
【计】 integrated circuit
【化】 integrated circuit
【经】 integrated circuit

逻辑的英语翻译：

logic
【计】 logic
【经】 logic

功能测试的英语翻译：

【计】 function testing; functional test; functional testing

网络扩展解释

大规模集成电路逻辑功能测试是指对大规模集成电路（LSI）中逻辑功能的正确性进行验证的过程，以确保其符合设计要求。以下是详细解释：

一、核心概念

大规模集成电路（LSI）
指集成度在1000至99999个元件或100至9999个逻辑门的芯片。其特点是将大量晶体管、电阻等元件集成到单一半导体基片上，实现复杂功能（如计算机处理器）。
逻辑功能测试
属于功能测试范畴，主要验证芯片的逻辑运算是否正确。例如，验证与门、或门等基本逻辑单元的输出是否符合预期。

二、测试流程与关键步骤

测试策略制定
包括需求分析（明确测试范围、性能指标）和测试计划设计。
测试执行
- 输入信号施加：通过自动测试设备（ATE）向芯片输入特定逻辑信号。
- 输出响应监测：采集输出信号，与预期结果对比，判断逻辑功能正确性。
结果分析
分析测试数据，定位故障并生成报告。

三、测试方法分类

静态测试：检测无信号输入时的电流、功耗等参数。
动态测试：模拟实际工作状态，验证时序逻辑功能。
边界扫描测试：通过内置测试电路检测芯片边界信号。

四、重要性

逻辑功能测试是确保芯片可靠性的核心环节，直接影响电子设备的稳定性。例如，计算机CPU若存在逻辑错误，可能导致系统崩溃或计算错误。

如需进一步了解测试设备（如示波器、ATE）或具体案例，可参考来源。

网络扩展解释二

大规模集成电路逻辑功能测试

大规模集成电路逻辑功能测试的中文拼音为“dà guī mó jí chéng diàn lù luògic gōngnéng cè shì”，英文解释为“large-scale integrated circuit logic functional testing”，读音为/lɑːdʒ skeɪl ˈɪntɪɡreɪtɪd ˈsɜːrkət ˈlɒdʒɪk ˈfʌŋkʃ(ə)n(ə)l ˈtesting/。该词汇用于描述测试大规模集成电路的逻辑功能是否在既定的操作条件下工作正常。

举个例子，假设你正在设计一项新型电子产品，你需要确保产品中的集成电路通过大规模集成电路逻辑功能测试，以确保产品能够正常运行。

英文例句：

Our engineers are working on the large-scale integrated circuit logic functional testing to identify any possible issues before launching the product.（我们的工程师正在进行大规模集成电路逻辑功能测试，以在产品推出前识别出任何可能的问题。）

英文近义词：

integrated circuit testing（集成电路测试）
logic testing（逻辑测试）
functional testing（功能测试）

英文反义词：

analog circuit testing（模拟电路测试）

该词汇在电子工程领域非常常见，常用度很高。希望这篇文章有助于读者了解和掌握这个词汇。