
【計】 initial failure
cubhood; infancy; initial stages; morning; prime; springtime
【醫】 initial stage
【經】 initial stage
invalidation; lapse
【計】 out-of-order
【化】 abatement; fail(ure); out of service; out-of-run
【醫】 inactivation
【經】 cease to have effect; lapse
在電子工程與可靠性工程領域,"初期失效"對應的英文術語為"infant mortality",指産品在投入使用後的早期階段因制造缺陷或材料瑕疵導緻的非正常故障現象。該概念最早由美國貝爾實驗室在20世紀60年代提出,現已成為可靠性分析的核心指标之一。
具體特征包含三個維度:
國際電子電氣工程師協會(IEEE)相關文獻指出,半導體器件中約68%的早期失效可通過加速壽命試驗檢測,該結論基于對300mm晶圓廠的質量追蹤數據。在機械組件領域,美國汽車工程師學會(SAE)标準J1739同樣規定了初期失效的量化評估方法。
"初期失效"(也稱早期失效)是可靠性工程中的重要概念,指産品或系統在投入使用初期出現的集中性故障現象。以下是詳細解析:
初期失效主要發生在設備、系統或産品的"磨合階段",表現為:
需要說明的是,初期失效與隨機失效存在本質區别:前者可通過改進設計制造消除,後者則具有不可預測的偶發特性。對于重要系統,建議參考IEC 61508标準進行安全完整性等級評估。
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