
【计】 initial failure
cubhood; infancy; initial stages; morning; prime; springtime
【医】 initial stage
【经】 initial stage
invalidation; lapse
【计】 out-of-order
【化】 abatement; fail(ure); out of service; out-of-run
【医】 inactivation
【经】 cease to have effect; lapse
在电子工程与可靠性工程领域,"初期失效"对应的英文术语为"infant mortality",指产品在投入使用后的早期阶段因制造缺陷或材料瑕疵导致的非正常故障现象。该概念最早由美国贝尔实验室在20世纪60年代提出,现已成为可靠性分析的核心指标之一。
具体特征包含三个维度:
国际电子电气工程师协会(IEEE)相关文献指出,半导体器件中约68%的早期失效可通过加速寿命试验检测,该结论基于对300mm晶圆厂的质量追踪数据。在机械组件领域,美国汽车工程师学会(SAE)标准J1739同样规定了初期失效的量化评估方法。
"初期失效"(也称早期失效)是可靠性工程中的重要概念,指产品或系统在投入使用初期出现的集中性故障现象。以下是详细解析:
初期失效主要发生在设备、系统或产品的"磨合阶段",表现为:
需要说明的是,初期失效与随机失效存在本质区别:前者可通过改进设计制造消除,后者则具有不可预测的偶发特性。对于重要系统,建议参考IEC 61508标准进行安全完整性等级评估。
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