火花源質譜儀英文解釋翻譯、火花源質譜儀的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 spark source mass spectrometer

分詞翻譯：

火花的英語翻譯：

light; scintilla; spark; sparkle
【醫】 spark

源的英語翻譯：

fountainhead; source
【醫】 source

質譜儀的英語翻譯：

【化】 mass spectrograph; mass spectrometer; mass spectroscope
【醫】 mass spectrograph

專業解析

火花源質譜儀（Spark Source Mass Spectrometer，簡稱SSMS）是一種用于固體材料痕量元素分析的高靈敏度質譜儀器。其核心原理是利用高頻高壓火花放電産生離子源，使樣品表面原子電離，再通過質量分析器分離檢測不同質荷比的離子。該技術特别適用于導體和半導體材料的直接固體分析，無需複雜化學前處理，可同時測定元素周期表中絕大多數元素，檢出限可達ppb級别。

一、技術原理與組成

火花電離源
在真空環境下，通過10-100 kV高頻電壓在樣品電極間産生脈沖火花放電，瞬時高溫（約10,000K）使樣品表面微區熔融并電離，生成包含多種元素離子的等離子體。

來源：《質譜分析技術原理與應用》（科學出版社）
雙聚焦質量分析器
采用電場與磁場組合實現方向聚焦和能量聚焦，如Mattauch-Herzog幾何結構，可同時聚焦所有質量數的離子，配合離子感光闆或電子倍增器檢測。

來源：International Journal of Mass Spectrometry, Vol. 349

二、核心特點與優勢

多元素同步分析：單次放電可檢測從锂到鈾的70餘種元素，尤其擅長稀土、難熔金屬分析。
極低檢出限：對高純材料中痕量雜質的檢出限達0.001-0.1 ppm，如半導體矽中摻雜元素測定。
半定量能力：通過離子強度與濃度近似線性關系，無需标準樣品即可估算含量。
固體直接分析：避免溶液法帶來的污染風險，適用于金屬合金、礦物等。
來源：美國材料試驗協會标準 ASTM E3047

三、典型應用領域

高純材料質檢：半導體矽片、核燃料棒、超純金屬的雜質監控（如Intel芯片材料分析報告）。
地質礦物研究：隕石成分解析（參考NASA JPL技術文檔）。
核工業材料分析：核反應堆材料中痕量中子毒物（如硼、镉）的測定。
來源：《分析化學前沿》（高等教育出版社）

術語對照

中文：火花源質譜儀

英文：Spark Source Mass Spectrometer (SSMS)

别稱：高壓火花質譜儀（High-Voltage Spark Mass Spectrometer）
來源：IUPAC分析術語數據庫

網絡擴展解釋

火花源質譜儀是一種用于無機成分分析的高靈敏度質譜儀器，主要通過高頻火花電離樣品，結合電磁場分離技術實現元素檢測。以下是其詳細解釋：

一、基本定義

火花源質譜儀屬于無機質譜儀的一種，以高頻火花作為離子源，特别適用于固體樣品的整體分析、表面及逐層分析，甚至可擴展至液體檢測。

二、工作原理

離子化過程：通過高頻火花轟擊樣品表面，使樣品原子電離形成帶正電荷的離子。這一過程能量分散較大，但電離效率高且選擇效應小。
質量分析：采用雙聚焦離子光學系統（如馬陶赫—赫佐格型），利用電磁場使不同質荷比（m/e）的離子偏轉分離，最終通過檢測器記錄離子信號。
公式原理：離子在磁場中的運動軌迹遵循質荷比與磁場強度的關系，即 $q/m = E/(B_1 B_2 r)$（來自電磁場作用下的偏轉公式）。

三、主要特點

高靈敏度：可檢測幾乎所有的元素，靈敏度達痕量級别。
分析範圍廣：適用于金屬、合金、半導體等固體材料，支持同位素豐度測定。
半定量/定量能力：無需複雜校正即可獲得半定量結果；若結合内标法或同位素稀釋法，可提升精度至相對标準偏差（RSD）2%~5%。

四、應用領域

主要用于地質礦物分析、材料科學中的元素分布檢測，以及核工業中的同位素分離研究。

五、儀器分類

根據功能可分為靜态型和動态型，其核心組件包括離子源、質量分析器和離子檢測器。

如需更完整的技術參數或操作案例，可參考專業文獻或儀器廠商資料。