火花源质谱仪英文解释翻译、火花源质谱仪的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【化】 spark source mass spectrometer

分词翻译：

火花的英语翻译：

light; scintilla; spark; sparkle
【医】 spark

源的英语翻译：

fountainhead; source
【医】 source

质谱仪的英语翻译：

【化】 mass spectrograph; mass spectrometer; mass spectroscope
【医】 mass spectrograph

专业解析

火花源质谱仪（Spark Source Mass Spectrometer，简称SSMS）是一种用于固体材料痕量元素分析的高灵敏度质谱仪器。其核心原理是利用高频高压火花放电产生离子源，使样品表面原子电离，再通过质量分析器分离检测不同质荷比的离子。该技术特别适用于导体和半导体材料的直接固体分析，无需复杂化学前处理，可同时测定元素周期表中绝大多数元素，检出限可达ppb级别。

一、技术原理与组成

火花电离源
在真空环境下，通过10-100 kV高频电压在样品电极间产生脉冲火花放电，瞬时高温（约10,000K）使样品表面微区熔融并电离，生成包含多种元素离子的等离子体。

来源：《质谱分析技术原理与应用》（科学出版社）
双聚焦质量分析器
采用电场与磁场组合实现方向聚焦和能量聚焦，如Mattauch-Herzog几何结构，可同时聚焦所有质量数的离子，配合离子感光板或电子倍增器检测。

来源：International Journal of Mass Spectrometry, Vol. 349

二、核心特点与优势

多元素同步分析：单次放电可检测从锂到铀的70余种元素，尤其擅长稀土、难熔金属分析。
极低检出限：对高纯材料中痕量杂质的检出限达0.001-0.1 ppm，如半导体硅中掺杂元素测定。
半定量能力：通过离子强度与浓度近似线性关系，无需标准样品即可估算含量。
固体直接分析：避免溶液法带来的污染风险，适用于金属合金、矿物等。
来源：美国材料试验协会标准 ASTM E3047

三、典型应用领域

高纯材料质检：半导体硅片、核燃料棒、超纯金属的杂质监控（如Intel芯片材料分析报告）。
地质矿物研究：陨石成分解析（参考NASA JPL技术文档）。
核工业材料分析：核反应堆材料中痕量中子毒物（如硼、镉）的测定。
来源：《分析化学前沿》（高等教育出版社）

术语对照

中文：火花源质谱仪

英文：Spark Source Mass Spectrometer (SSMS)

别称：高压火花质谱仪（High-Voltage Spark Mass Spectrometer）
来源：IUPAC分析术语数据库

网络扩展解释

火花源质谱仪是一种用于无机成分分析的高灵敏度质谱仪器，主要通过高频火花电离样品，结合电磁场分离技术实现元素检测。以下是其详细解释：

一、基本定义

火花源质谱仪属于无机质谱仪的一种，以高频火花作为离子源，特别适用于固体样品的整体分析、表面及逐层分析，甚至可扩展至液体检测。

二、工作原理

离子化过程：通过高频火花轰击样品表面，使样品原子电离形成带正电荷的离子。这一过程能量分散较大，但电离效率高且选择效应小。
质量分析：采用双聚焦离子光学系统（如马陶赫—赫佐格型），利用电磁场使不同质荷比（m/e）的离子偏转分离，最终通过检测器记录离子信号。
公式原理：离子在磁场中的运动轨迹遵循质荷比与磁场强度的关系，即 $q/m = E/(B_1 B_2 r)$（来自电磁场作用下的偏转公式）。

三、主要特点

高灵敏度：可检测几乎所有的元素，灵敏度达痕量级别。
分析范围广：适用于金属、合金、半导体等固体材料，支持同位素丰度测定。
半定量/定量能力：无需复杂校正即可获得半定量结果；若结合内标法或同位素稀释法，可提升精度至相对标准偏差（RSD）2%~5%。

四、应用领域

主要用于地质矿物分析、材料科学中的元素分布检测，以及核工业中的同位素分离研究。

五、仪器分类

根据功能可分为静态型和动态型，其核心组件包括离子源、质量分析器和离子检测器。

如需更完整的技术参数或操作案例，可参考专业文献或仪器厂商资料。