英語翻譯：

【計】 programmable logic testing

分詞翻譯：

可編程式邏輯的英語翻譯：

【計】 programmable logic

測試的英語翻譯：

test; testing
【計】 T
【化】 measurement and test
【經】 test

專業解析

可編程式邏輯測試（kě biān chéngxù luójǐ cèshì）是一個電子工程與自動化領域的專業術語，其核心含義如下：

一、術語解析

1. 可編程式 (Programmable)

   指硬件功能可通過軟件指令重新配置，典型代表為可編程邏輯器件 (PLD)，如FPGA（現場可編程門陣列）和CPLD（複雜可編程邏輯器件）。用戶通過硬件描述語言（如VHDL/Verilog）定義邏輯功能，實現定制化電路設計 。

2. 邏輯測試 (Logic Testing)

   指對數字電路的邏輯功能進行驗證的過程，通過輸入測試向量（Test Vectors）檢測輸出是否符合預期，覆蓋功能正确性、時序約束及故障覆蓋率等指标 。

二、完整定義

可編程式邏輯測試指利用可編程邏輯器件（如FPGA）構建測試環境，通過動态加載測試程式對目标電路（如ASIC或嵌入式系統）進行自動化邏輯驗證的技術。其核心價值在于：

• 靈活性：通過重構測試邏輯適配不同被測對象；
• 高效率：并行測試能力顯著縮短驗證周期；
• 低成本：替代傳統定制測試硬件，降低開發成本（來源：IEEE标準術語庫）。

三、應用場景

1. 原型驗證：在芯片流片前通過FPGA仿真硬件行為；
2. 産線測試：自動化測試設備（ATE）中部署可編程測試向量；
3. 故障診斷：實時注入故障模型定位電路缺陷（參考：《數字系統測試與可測性設計》清華大學出版社）。

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權威參考文獻

1. FPGA原理與結構 | 日本晶體管技術社

   https://www.tts.co.jp/fpga-architecture

2. IEEE 1149.1邊界掃描測試标準

   https://standards.ieee.org/ieee/1149.1/10593/

3. 《VHDL數字電路設計教程》機械工業出版社 ISBN 978-7-111-54321-0

網絡擴展解釋

“可編程式邏輯測試”是針對可編程邏輯器件（如FPGA、CPLD等）的功能和性能進行驗證的測試過程，旨在确保其設計符合要求且工作可靠。以下是詳細解釋：

1.定義與目的

可編程式邏輯測試屬于硬件測試範疇，主要用于驗證可編程邏輯器件（PLD）的邏輯功能、時序性能、邊界條件處理等是否符合設計要求。其核心目的是通過系統化的測試方法，确保器件在不同工作條件下的穩定性和可靠性。

2.測試内容

根據測試标準，主要包括以下方面：

• 邏輯功能測試：通過輸入不同用例驗證器件是否能正确執行設計邏輯（如加法器、狀态機等）。
• 時序測試：檢查時鐘頻率、信號延遲等參數是否達标，确保時序邏輯的穩定性。
• 邊界與異常測試：模拟輸入信號的極限值（如電壓、溫度）和異常情況（如信號幹擾），評估器件的容錯能力。
• 兼容性測試：驗證器件與其他硬件（如處理器、存儲器）的協同工作能力。
• 可靠性測試：通過長期運行或極端環境（高溫、振動）測試，評估器件的耐用性。

3.與其他測試的區别

• 與軟件編程測試的差異：軟件測試側重代碼邏輯和算法（如單元測試、性能測試），而可編程式邏輯測試聚焦硬件邏輯電路的功能和物理性能。
• 測試對象：針對FPGA、CPLD等可編程硬件，而非軟件程式。

4.應用場景

此類測試廣泛應用于芯片設計、通信設備、工業控制系統等領域，确保硬件在複雜環境中的可靠性。

可編程式邏輯測試通過多維度驗證确保可編程邏輯器件的功能完善與性能穩定，是硬件開發中不可或缺的環節。如需進一步了解測試标準或具體方法，可參考來源、9、11等。

分類

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