英语翻译：

【计】 programmable logic testing

分词翻译：

可编程序逻辑的英语翻译：

【计】 programmable logic

测试的英语翻译：

test; testing
【计】 T
【化】 measurement and test
【经】 test

专业解析

可编程序逻辑测试（kě biān chéngxù luójǐ cèshì）是一个电子工程与自动化领域的专业术语，其核心含义如下：

一、术语解析

1. 可编程序 (Programmable)

   指硬件功能可通过软件指令重新配置，典型代表为可编程逻辑器件 (PLD)，如FPGA（现场可编程门阵列）和CPLD（复杂可编程逻辑器件）。用户通过硬件描述语言（如VHDL/Verilog）定义逻辑功能，实现定制化电路设计 。

2. 逻辑测试 (Logic Testing)

   指对数字电路的逻辑功能进行验证的过程，通过输入测试向量（Test Vectors）检测输出是否符合预期，覆盖功能正确性、时序约束及故障覆盖率等指标 。

二、完整定义

可编程序逻辑测试指利用可编程逻辑器件（如FPGA）构建测试环境，通过动态加载测试程序对目标电路（如ASIC或嵌入式系统）进行自动化逻辑验证的技术。其核心价值在于：

• 灵活性：通过重构测试逻辑适配不同被测对象；
• 高效率：并行测试能力显著缩短验证周期；
• 低成本：替代传统定制测试硬件，降低开发成本（来源：IEEE标准术语库）。

三、应用场景

1. 原型验证：在芯片流片前通过FPGA仿真硬件行为；
2. 产线测试：自动化测试设备（ATE）中部署可编程测试向量；
3. 故障诊断：实时注入故障模型定位电路缺陷（参考：《数字系统测试与可测性设计》清华大学出版社）。

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权威参考文献

1. FPGA原理与结构 | 日本晶体管技术社

   https://www.tts.co.jp/fpga-architecture

2. IEEE 1149.1边界扫描测试标准

   https://standards.ieee.org/ieee/1149.1/10593/

3. 《VHDL数字电路设计教程》机械工业出版社 ISBN 978-7-111-54321-0

网络扩展解释

“可编程序逻辑测试”是针对可编程逻辑器件（如FPGA、CPLD等）的功能和性能进行验证的测试过程，旨在确保其设计符合要求且工作可靠。以下是详细解释：

1.定义与目的

可编程序逻辑测试属于硬件测试范畴，主要用于验证可编程逻辑器件（PLD）的逻辑功能、时序性能、边界条件处理等是否符合设计要求。其核心目的是通过系统化的测试方法，确保器件在不同工作条件下的稳定性和可靠性。

2.测试内容

根据测试标准，主要包括以下方面：

• 逻辑功能测试：通过输入不同用例验证器件是否能正确执行设计逻辑（如加法器、状态机等）。
• 时序测试：检查时钟频率、信号延迟等参数是否达标，确保时序逻辑的稳定性。
• 边界与异常测试：模拟输入信号的极限值（如电压、温度）和异常情况（如信号干扰），评估器件的容错能力。
• 兼容性测试：验证器件与其他硬件（如处理器、存储器）的协同工作能力。
• 可靠性测试：通过长期运行或极端环境（高温、振动）测试，评估器件的耐用性。

3.与其他测试的区别

• 与软件编程测试的差异：软件测试侧重代码逻辑和算法（如单元测试、性能测试），而可编程序逻辑测试聚焦硬件逻辑电路的功能和物理性能。
• 测试对象：针对FPGA、CPLD等可编程硬件，而非软件程序。

4.应用场景

此类测试广泛应用于芯片设计、通信设备、工业控制系统等领域，确保硬件在复杂环境中的可靠性。

可编程序逻辑测试通过多维度验证确保可编程逻辑器件的功能完善与性能稳定，是硬件开发中不可或缺的环节。如需进一步了解测试标准或具体方法，可参考来源、9、11等。

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