晶體軸線測定英文解釋翻譯、晶體軸線測定的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 axonometry

分詞翻譯：

晶的英語翻譯：

brilliant; crystal; glittering

體軸的英語翻譯：

【醫】 axone

線的英語翻譯：

clue; line; string; stringy; thread; tie; verge; wire
【醫】 line; line Of occlusion; linea; lineae; lineae poplitea; mito-; nemato-
soleal line; strand; thread
【經】 line

測定的英語翻譯：

determine; mensuration; set out
【化】 assaying; determination; estimation
【醫】 assay; determination
【經】 gauge

專業解析

晶體軸線測定（Crystallographic Axis Determination）是晶體學中描述晶體結構對稱性的基礎分析方法，其核心是通過測量晶體的幾何參數确定晶軸系統。根據國際晶體學聯合會（IUCr）的定義，晶軸是由晶體内部原子排列對稱性決定的坐标軸，通常用a軸、b軸、c軸表示，其長度（軸率）和夾角（軸角）構成晶胞參數。

關鍵步驟與原理

晶系判定
根據晶體的對稱性特征（如旋轉軸、對稱面）劃分七大晶系，例如立方晶系的軸角為90°且軸率相等，而單斜晶系的軸角β≠90°。

術語對照：晶系（Crystal System）；軸角（Interaxial Angles）
軸率與軸角測量
使用X射線衍射或光學測角儀測定晶面夾角，結合布拉格方程計算晶面間距，推導晶軸長度比例。例如，正交晶系滿足公式：

$$ frac{1}{d{hkl}} = frac{h}{a} + frac{k}{b} + frac{l}{c} $$

其中(d{hkl})為晶面間距，(hkl)為密勒指數。
标準定向規則
遵循IUCr标準，優先選擇最短軸為a軸，b軸垂直于a軸與c軸形成的平面，且右手定則确定軸向關系。

應用與權威依據

該方法被廣泛應用于礦物鑒定、材料科學及藥物晶體分析領域。美國礦物學會（MSA）在《礦物學手冊》中指出，精确的軸線測定是區分同質多象體的關鍵依據。相關實驗标準可參考《國際晶體學表》（International Tables for Crystallography）中關于晶胞參數計算的章節。

網絡擴展解釋

“晶體軸線測定”是材料科學和晶體學中的專業術語，指通過實驗方法确定晶體内部結構中的晶軸參數。以下是詳細解釋：

1.基本定義

晶體軸線測定（英語：Axonometry）指對晶體坐标系中三個晶軸（a軸、b軸、c軸）的長度和夾角進行測量的過程。這些參數決定了晶體的幾何對稱性和晶胞結構。

2.核心參數

晶軸長度：用a、b、c表示，單位為埃（Å）；
晶軸夾角：用α（b與c夾角）、β（a與c夾角）、γ（a與b夾角）表示，單位為度（°）。

3.測定方法

常用技術包括：

X射線衍射：通過衍射圖譜計算晶胞參數；
光學測角法：利用顯微鏡測量晶體表面夾角；
電子背散射衍射（EBSD）：分析晶體取向。

4.應用領域

材料科學：确定金屬、陶瓷的晶體結構；
礦物學：鑒定礦物種類和性質；
化學合成：指導單晶生長和藥物研發。

5.示例公式

晶胞體積可通過晶軸參數計算： $$ V = abc sqrt{1 - cosalpha - cosbeta - cosgamma + 2cosalphacosbetacosgamma} $$

如需進一步了解具體實驗步驟，可參考晶體學教材或專業文獻。