
【化】 axonometry
brilliant; crystal; glittering
【医】 axone
clue; line; string; stringy; thread; tie; verge; wire
【医】 line; line Of occlusion; linea; lineae; lineae poplitea; mito-; nemato-
soleal line; strand; thread
【经】 line
determine; mensuration; set out
【化】 assaying; determination; estimation
【医】 assay; determination
【经】 gauge
晶体轴线测定(Crystallographic Axis Determination)是晶体学中描述晶体结构对称性的基础分析方法,其核心是通过测量晶体的几何参数确定晶轴系统。根据国际晶体学联合会(IUCr)的定义,晶轴是由晶体内部原子排列对称性决定的坐标轴,通常用a轴、b轴、c轴表示,其长度(轴率)和夹角(轴角)构成晶胞参数。
晶系判定
根据晶体的对称性特征(如旋转轴、对称面)划分七大晶系,例如立方晶系的轴角为90°且轴率相等,而单斜晶系的轴角β≠90°。
术语对照:晶系(Crystal System);轴角(Interaxial Angles)
轴率与轴角测量
使用X射线衍射或光学测角仪测定晶面夹角,结合布拉格方程计算晶面间距,推导晶轴长度比例。例如,正交晶系满足公式:
$$ frac{1}{d{hkl}} = frac{h}{a} + frac{k}{b} + frac{l}{c} $$
其中(d{hkl})为晶面间距,(hkl)为密勒指数。
标准定向规则
遵循IUCr标准,优先选择最短轴为a轴,b轴垂直于a轴与c轴形成的平面,且右手定则确定轴向关系。
该方法被广泛应用于矿物鉴定、材料科学及药物晶体分析领域。美国矿物学会(MSA)在《矿物学手册》中指出,精确的轴线测定是区分同质多象体的关键依据。相关实验标准可参考《国际晶体学表》(International Tables for Crystallography)中关于晶胞参数计算的章节。
“晶体轴线测定”是材料科学和晶体学中的专业术语,指通过实验方法确定晶体内部结构中的晶轴参数。以下是详细解释:
晶体轴线测定(英语:Axonometry)指对晶体坐标系中三个晶轴(a轴、b轴、c轴)的长度和夹角进行测量的过程。这些参数决定了晶体的几何对称性和晶胞结构。
常用技术包括:
晶胞体积可通过晶轴参数计算: $$ V = abc sqrt{1 - cosalpha - cosbeta - cosgamma + 2cosalphacosbetacosgamma} $$
如需进一步了解具体实验步骤,可参考晶体学教材或专业文献。
【别人正在浏览】