波陣面分割英文解釋翻譯、波陣面分割的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 division of wavefront

分詞翻譯：

波陣面的英語翻譯：

【化】 wave front
【醫】 front wave

分割的英語翻譯：

branch; dismember; partition; segment; segmentation
【計】 deleave; fragmenting; partitioning; sectioning; seg
【化】 breaking

專業解析

波陣面分割（Wavefront Splitting）是光學中的關鍵技術，指将單一光波的波陣面（等相位面）人為分割為兩部分或多部分，使分割後的子波陣面在空間不同區域傳播并産生幹涉的現象。其核心原理是通過特定光學元件改變波陣面的空間分布，為幹涉測量和波前分析提供基礎。

一、術語定義與原理

中文：波陣面分割
英文：Wavefront Splitting（或連寫為 Wavefront-Splitting）
物理本質：基于惠更斯原理（Huygens Principle），波陣面每一點均可視為次級子波源。分割後子波陣面攜帶同源光信息，具備相幹性，相遇時形成幹涉條紋。經典案例如楊氏雙縫實驗（Young's Double-Slit Experiment），狹縫将入射波陣面分割為兩束相幹光。

二、技術實現方式

振幅分割器件
雙縫、光栅等通過限制波陣面通過區域實現分割。例如，菲涅耳雙面鏡（Fresnel Biprism）将入射波陣面折射為兩束虛拟光源，産生幹涉。

波前調制元件
空間光調制器（SLM）或變形鏡（Deformable Mirror）主動調控波陣面相位分布，實現動态分割與像差校正，應用于自適應光學系統。

三、典型應用領域

幹涉計量：激光幹涉儀通過波陣面分割測量微米級位移，工業中用于表面平整度檢測。
天文觀測：恒星幹涉儀（如Michelson Stellar Interferometer）分割星光波陣面，提升望遠鏡角分辨率。
生物成像：相位顯微技術分割樣品散射波陣面，重構透明生物結構（如細胞器）的三維相襯圖像。

四、漢英詞典釋義要點

波陣面分割（bō zhèn miàn fēn gē）
英譯：wavefront splitting

釋義：通過光學裝置将單一光波的等相位面分離為多個子波陣面的方法，子波陣面相幹疊加形成幹涉圖樣，用于高精度測量與波前分析。

例證："波陣面分割幹涉術可檢測光學元件的面形誤差。"

（Wavefront splitting interferometry detects surface errors of optical components.）

參考文獻來源

Principles of Optics (Max Born, Emil Wolf) - 基礎光學理論
Optics (Eugene Hecht) - 雙縫實驗與幹涉裝置
Adaptive Optics for Astronomical Telescopes (John W. Hardy) - 波前調制技術
Interferometry and Synthesis in Radio Astronomy (A. Richard Thompson) - 天文幹涉儀原理
Biomedical Optical Imaging (James G. Fujimoto) - 相位成像應用

網絡擴展解釋

波陣面分割是波動光學中獲取相幹光的重要方法，其核心原理和解釋如下：

一、基礎概念

波陣面（波面）是指波源振動在介質中傳播時，經過相同時間到達的各點所組成的曲面。同一波陣面上所有質點的振動相位相同。例如水波的波陣面呈同心圓分布，最外側的波面稱為波前。

二、波陣面分割的定義

通過将同一波陣面分割為兩部分來獲取相幹光的方法。具體操作是：在點光源發出的同一波陣面上，選取兩個微小區域作為次波源，經不同路徑傳播後相遇産生幹涉。這種方法被稱為分波陣面法。

三、核心原理

相位一緻性：同一波陣面上各點的振動相位相同，分割後的兩部分次波源具有恒定的初始相位差，滿足相幹條件。
幹涉條件：分割後的兩束光經過不同路徑後疊加，根據光程差（$Delta = dsintheta$）形成明暗相間的幹涉條紋，公式可表示為： $$ Delta = begin{cases} pm klambda & 明紋 pm (2k+1)frac{lambda}{2} & 暗紋 end{cases} $$

四、典型應用

楊氏雙縫實驗：通過狹縫将波陣面分割為兩束相幹光。
勞埃德鏡：利用光源與平面鏡反射光的分割波陣面實現幹涉。
菲涅耳雙面鏡：通過兩平面鏡的反射分割波陣面。

五、技術特點

適用性：適用于點光源或線光源。
優勢：比振幅分割法更易獲得高對比度幹涉條紋。
局限性：對光源單色性要求較高，白光幹涉條紋會出現色散。

此方法在光學測量（如薄膜厚度檢測）和精密儀器校準中有重要應用，是波動光學的基礎實驗手段之一。