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台面刻蝕英文解釋翻譯、台面刻蝕的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯:

【計】 mesa etch

分詞翻譯:

台的英語翻譯:

broadcasting station; dais; desk; platform; stage; support; table
【醫】 table

面的英語翻譯:

face; surface; cover; directly; range; scale; side
【醫】 face; facies; facio-; prosopo-; surface

刻蝕的英語翻譯:

【計】 etch

專業解析

台面刻蝕 (Tái Miàn Kè Shí) / Mesa Etching

術語定義 (Term Definition): “台面刻蝕”是半導體制造工藝中的一項關鍵技術。其核心含義是通過選擇性蝕刻(Etching)半導體材料(如矽、砷化镓等),在襯底表面形成具有陡峭側壁、頂部平坦的凸起平台狀結構,因其形似“台面”而得名。英文對應術語為Mesa Etching。

工藝原理 (Process Principle):

  1. 掩膜制備 (Mask Preparation): 首先在半導體晶圓表面沉積或生長一層掩膜材料(如二氧化矽、氮化矽或光刻膠)。通過光刻(Photolithography)技術,将所需的“台面”圖形精确轉移到掩膜層上,暴露出需要被蝕刻掉的區域。
  2. 選擇性蝕刻 (Selective Etching): 使用濕法化學蝕刻(Wet Chemical Etching)或幹法等離子體蝕刻(Dry Plasma Etching)技術,對暴露的半導體區域進行蝕刻。蝕刻過程需要具有高選擇性,即隻蝕刻半導體材料,而對下方的襯底和上方的掩膜層蝕刻速率極低或為零。
  3. 結構形成 (Structure Formation): 蝕刻進行到預定深度後停止,去除掩膜層。最終在襯底上留下一個或多個孤立的、具有垂直或近似垂直側壁的台面結構。台面之間的區域被蝕刻掉,形成隔離溝槽。

核心目的與應用 (Core Purpose & Applications): 台面刻蝕的主要目的是實現半導體器件之間的電學隔離。在早期半導體器件(如台面二極管、台面晶體管)和現代化合物半導體器件(如GaAs HEMT、激光二極管)制造中尤為重要:

技術特點與優勢 (Technical Characteristics & Advantages):

參考來源 (References):

  1. 中國電子學會. 《半導體技術術語手冊》. 電子工業出版社. (China Electronics Society. Handbook of Semiconductor Technology Terms. Publishing House of Electronics Industry.)
  2. S. M. Sze & K. K. Ng. 《半導體器件物理與工藝(第三版)》. 趙鶴鳴 等譯. 蘇州大學出版社. (S. M. Sze & K. K. Ng. Physics of Semiconductor Devices (3rd Ed). Translated by Zhao Heming et al. Soochow University Press.) - 經典教材,涵蓋器件物理與制造工藝基礎。
  3. IEEE Electron Devices Society. 《IEEE 電子器件制造工藝指南》. (IEEE Electron Devices Society. IEEE Guide for Electronic Device Manufacturing Processes.) - 行業标準組織發布的權威指南。
  4. 王陽元 等. 《集成電路工藝手冊》. 電子工業出版社. (Wang Yangyuan et al. Handbook of Integrated Circuit Manufacturing Processes. Publishing House of Electronics Industry.) - 國内權威的集成電路工藝參考書。
  5. 《英漢微電子技術詞典》. 科學出版社. (English-Chinese Dictionary of Microelectronics. Science Press.) - 提供專業術語的标準中英文對照。

網絡擴展解釋

台面刻蝕(MESA刻蝕)是半導體制造和微納加工中的一種關鍵工藝技術,主要用于在材料表面形成階梯狀或平台狀結構。以下是綜合多個來源的詳細解釋:

一、基本定義

台面刻蝕通過選擇性去除材料表面特定區域,形成類似"台地"的立體結構。這種結構常見于光電器件(如LED、激光二極管)和半導體器件中,用于實現不同功能層的隔離或電極接觸優化。

二、工藝原理

  1. 掩膜保護:先在材料表面覆蓋光刻膠等掩膜層,通過光刻技術定義出需要保留的區域圖案。
  2. 刻蝕實施:
    • 采用幹法刻蝕(如ICP感應耦合等離子體)進行高精度垂直刻蝕
    • 通過物理轟擊或化學反應去除未被掩膜覆蓋的材料
  3. 結構形成:最終在材料表面形成具有高度差的台面結構,側壁陡直度可達85°以上。

三、技術特點

特性 說明
各向異性 幹法刻蝕可實現高方向性,減少橫向刻蝕(對比濕法刻蝕精度提升5-10倍)
選擇比 通過調節氣體配比,可實現對不同材料(如GaAs/SiO₂)的選擇性刻蝕
尺寸控制 最小特征尺寸可達納米級,滿足現代微電子器件需求

四、典型應用

注:該工藝需要精确控制刻蝕速率(通常50-500nm/min)、等離子體密度(10¹⁰-10¹² cm⁻³)等參數。更專業的工藝細節可參考半導體制造标準文件SEMI F47-0200。

分類

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