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台面刻蚀英文解释翻译、台面刻蚀的近义词、反义词、例句

英语翻译:

【计】 mesa etch

分词翻译:

台的英语翻译:

broadcasting station; dais; desk; platform; stage; support; table
【医】 table

面的英语翻译:

face; surface; cover; directly; range; scale; side
【医】 face; facies; facio-; prosopo-; surface

刻蚀的英语翻译:

【计】 etch

专业解析

台面刻蚀 (Tái Miàn Kè Shí) / Mesa Etching

术语定义 (Term Definition): “台面刻蚀”是半导体制造工艺中的一项关键技术。其核心含义是通过选择性蚀刻(Etching)半导体材料(如硅、砷化镓等),在衬底表面形成具有陡峭侧壁、顶部平坦的凸起平台状结构,因其形似“台面”而得名。英文对应术语为Mesa Etching。

工艺原理 (Process Principle):

  1. 掩膜制备 (Mask Preparation): 首先在半导体晶圆表面沉积或生长一层掩膜材料(如二氧化硅、氮化硅或光刻胶)。通过光刻(Photolithography)技术,将所需的“台面”图形精确转移到掩膜层上,暴露出需要被蚀刻掉的区域。
  2. 选择性蚀刻 (Selective Etching): 使用湿法化学蚀刻(Wet Chemical Etching)或干法等离子体蚀刻(Dry Plasma Etching)技术,对暴露的半导体区域进行蚀刻。蚀刻过程需要具有高选择性,即只蚀刻半导体材料,而对下方的衬底和上方的掩膜层蚀刻速率极低或为零。
  3. 结构形成 (Structure Formation): 蚀刻进行到预定深度后停止,去除掩膜层。最终在衬底上留下一个或多个孤立的、具有垂直或近似垂直侧壁的台面结构。台面之间的区域被蚀刻掉,形成隔离沟槽。

核心目的与应用 (Core Purpose & Applications): 台面刻蚀的主要目的是实现半导体器件之间的电学隔离。在早期半导体器件(如台面二极管、台面晶体管)和现代化合物半导体器件(如GaAs HEMT、激光二极管)制造中尤为重要:

技术特点与优势 (Technical Characteristics & Advantages):

参考来源 (References):

  1. 中国电子学会. 《半导体技术术语手册》. 电子工业出版社. (China Electronics Society. Handbook of Semiconductor Technology Terms. Publishing House of Electronics Industry.)
  2. S. M. Sze & K. K. Ng. 《半导体器件物理与工艺(第三版)》. 赵鹤鸣 等译. 苏州大学出版社. (S. M. Sze & K. K. Ng. Physics of Semiconductor Devices (3rd Ed). Translated by Zhao Heming et al. Soochow University Press.) - 经典教材,涵盖器件物理与制造工艺基础。
  3. IEEE Electron Devices Society. 《IEEE 电子器件制造工艺指南》. (IEEE Electron Devices Society. IEEE Guide for Electronic Device Manufacturing Processes.) - 行业标准组织发布的权威指南。
  4. 王阳元 等. 《集成电路工艺手册》. 电子工业出版社. (Wang Yangyuan et al. Handbook of Integrated Circuit Manufacturing Processes. Publishing House of Electronics Industry.) - 国内权威的集成电路工艺参考书。
  5. 《英汉微电子技术词典》. 科学出版社. (English-Chinese Dictionary of Microelectronics. Science Press.) - 提供专业术语的标准中英文对照。

网络扩展解释

台面刻蚀(MESA刻蚀)是半导体制造和微纳加工中的一种关键工艺技术,主要用于在材料表面形成阶梯状或平台状结构。以下是综合多个来源的详细解释:

一、基本定义

台面刻蚀通过选择性去除材料表面特定区域,形成类似"台地"的立体结构。这种结构常见于光电器件(如LED、激光二极管)和半导体器件中,用于实现不同功能层的隔离或电极接触优化。

二、工艺原理

  1. 掩膜保护:先在材料表面覆盖光刻胶等掩膜层,通过光刻技术定义出需要保留的区域图案。
  2. 刻蚀实施:
    • 采用干法刻蚀(如ICP感应耦合等离子体)进行高精度垂直刻蚀
    • 通过物理轰击或化学反应去除未被掩膜覆盖的材料
  3. 结构形成:最终在材料表面形成具有高度差的台面结构,侧壁陡直度可达85°以上。

三、技术特点

特性 说明
各向异性 干法刻蚀可实现高方向性,减少横向刻蚀(对比湿法刻蚀精度提升5-10倍)
选择比 通过调节气体配比,可实现对不同材料(如GaAs/SiO₂)的选择性刻蚀
尺寸控制 最小特征尺寸可达纳米级,满足现代微电子器件需求

四、典型应用

注:该工艺需要精确控制刻蚀速率(通常50-500nm/min)、等离子体密度(10¹⁰-10¹² cm⁻³)等参数。更专业的工艺细节可参考半导体制造标准文件SEMI F47-0200。

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