薄膜扫描英文解释翻译、薄膜扫描的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【电】 film scanning

分词翻译：

薄膜的英语翻译：

film; membrane; pellicle
【计】 thin membrane; thin-film
【医】 film

扫描的英语翻译：

scan; scanning
【计】 fineness; scanning
【医】 scanning

专业解析

薄膜扫描（Thin Film Scanning）是材料科学与电子工程领域的专业术语，指通过特定仪器对纳米级或微米级薄膜材料进行结构、成分或性能的全面检测与分析。该技术常见于半导体制造、光伏材料研发等领域，其英文对应词为"thin film scanning"或"film scanning"。

从技术实现层面可分为：

1. 光学扫描：利用椭圆偏振光谱仪检测薄膜厚度与光学常数，美国国家标准与技术研究院（NIST）的实验手册记载其精度可达0.1纳米级
2. 电子探针扫描：通过扫描电子显微镜（SEM）获取薄膜表面形貌特征，剑桥大学材料系研究显示此方法可识别5纳米以上的微观缺陷
3. 原子力扫描：采用原子力显微镜（AFM）进行原子级分辨率扫描，德国弗劳恩霍夫研究所证实该方法适用于柔性薄膜材料分析

权威文献显示，现代薄膜扫描技术已实现多模态数据融合，如《Journal of Materials Science》刊载的研究表明，X射线衍射与拉曼光谱联用可同步获取薄膜晶体结构和化学成分数据。该技术对提高太阳能电池转换效率、优化集成电路性能具有关键作用。

网络扩展解释

关于“薄膜扫描”这一术语的解释如下：

薄膜（）指由塑料、橡胶等材料制成的薄而软的透明片状物，厚度通常在微米至纳米级别。这类材料广泛应用于电子元件、光学涂层、包装材料等领域。

扫描指通过电子或光学设备对物体进行逐点检测分析的技术，常见于医学影像、材料检测等场景。

薄膜扫描这一组合术语可理解为：

1. 材料检测应用：利用扫描电子显微镜（SEM）或原子力显微镜（AFM）对薄膜表面形貌、厚度均匀性进行高精度分析，常用于半导体和光伏产业。
2. 工业质检技术：通过红外光谱扫描检测薄膜涂层成分，或使用X射线扫描检测内部缺陷，确保产品符合质量标准。
3. 生物医学领域：如扫描薄膜传感器监测生理指标，或分析生物样本制备的薄膜载玻片。

由于当前搜索结果未直接提供该术语定义，以上解释基于“薄膜”基础含义结合“扫描”技术特性进行的逻辑推导。如需更专业的定义，建议补充具体行业背景或查询材料科学领域的专业文献。

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