薄膜掃描英文解釋翻譯、薄膜掃描的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【電】 film scanning

分詞翻譯：

薄膜的英語翻譯：

film; membrane; pellicle
【計】 thin membrane; thin-film
【醫】 film

掃描的英語翻譯：

scan; scanning
【計】 fineness; scanning
【醫】 scanning

專業解析

薄膜掃描（Thin Film Scanning）是材料科學與電子工程領域的專業術語，指通過特定儀器對納米級或微米級薄膜材料進行結構、成分或性能的全面檢測與分析。該技術常見于半導體制造、光伏材料研發等領域，其英文對應詞為"thin film scanning"或"film scanning"。

從技術實現層面可分為：

1. 光學掃描：利用橢圓偏振光譜儀檢測薄膜厚度與光學常數，美國國家标準與技術研究院（NIST）的實驗手冊記載其精度可達0.1納米級
2. 電子探針掃描：通過掃描電子顯微鏡（SEM）獲取薄膜表面形貌特征，劍橋大學材料系研究顯示此方法可識别5納米以上的微觀缺陷
3. 原子力掃描：采用原子力顯微鏡（AFM）進行原子級分辨率掃描，德國弗勞恩霍夫研究所證實該方法適用于柔性薄膜材料分析

權威文獻顯示，現代薄膜掃描技術已實現多模态數據融合，如《Journal of Materials Science》刊載的研究表明，X射線衍射與拉曼光譜聯用可同步獲取薄膜晶體結構和化學成分數據。該技術對提高太陽能電池轉換效率、優化集成電路性能具有關鍵作用。

網絡擴展解釋

關于“薄膜掃描”這一術語的解釋如下：

薄膜（）指由塑料、橡膠等材料制成的薄而軟的透明片狀物，厚度通常在微米至納米級别。這類材料廣泛應用于電子元件、光學塗層、包裝材料等領域。

掃描指通過電子或光學設備對物體進行逐點檢測分析的技術，常見于醫學影像、材料檢測等場景。

薄膜掃描這一組合術語可理解為：

1. 材料檢測應用：利用掃描電子顯微鏡（SEM）或原子力顯微鏡（AFM）對薄膜表面形貌、厚度均勻性進行高精度分析，常用于半導體和光伏産業。
2. 工業質檢技術：通過紅外光譜掃描檢測薄膜塗層成分，或使用X射線掃描檢測内部缺陷，确保産品符合質量标準。
3. 生物醫學領域：如掃描薄膜傳感器監測生理指标，或分析生物樣本制備的薄膜載玻片。

由于當前搜索結果未直接提供該術語定義，以上解釋基于“薄膜”基礎含義結合“掃描”技術特性進行的邏輯推導。如需更專業的定義，建議補充具體行業背景或查詢材料科學領域的專業文獻。

分類

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