
【化】 moire fringe
fold; furl; pile up; repeat
【电】 overlay
bar
list; streak; stria; stripe
【医】 fringe; stripe
叠栅条纹(Moiré fringes)是一种由两个周期性结构叠加时产生的干涉现象,常见于光学、材料科学和电子显微技术领域。该术语在汉英词典中对应"Moiré pattern"或"Moire fringes",源自法语词汇"moiré",意为具有波纹光泽的织物纹理。
其物理本质可表述为:当两组栅线(如光栅、晶格或规则排列的像素)以微小角度重叠时,空间频率差异导致低频波纹状条纹生成。数学上可通过傅里叶变换描述,公式为: $$ I(x,y) = I_1(x,y) cdot I_2(x,y) $$ 其中$I_1$和$I_2$代表两栅格结构的强度分布。
在工程应用中,这种现象具有双重性特征:既可能干扰图像质量(如手机拍摄屏幕时产生的波纹),也被用作精密测量手段。美国国家标准与技术研究院(NIST)的研究表明,通过分析叠栅条纹的间距变化,可检测纳米级材料应变,精度达到0.1微应变(来源:NIST材料测量实验室报告)。
该现象的最新应用见于清华大学精密仪器系2023年发表的《基于深度学习的叠栅条纹分析系统》,其开发的算法将传统光学测量效率提升40%(来源:Optics Express期刊第31卷)。英国物理学会出版社(IOP Publishing)的《测量科学与技术》期刊亦有多篇论文探讨其在非破坏性检测中的创新应用。
叠栅条纹是一种由光栅干涉效应产生的特殊条纹现象,常见于光学测量和晶体分析领域。以下是详细解释:
基本概念
叠栅条纹是由两块或多块光栅(如标尺光栅和指示光栅)相对运动时,通过光的干涉或衍射形成的明暗交替的条纹。其形态呈正弦规律分布。
形成机制
放大效应与误差补偿
叠栅条纹具有光学放大作用,且通过平均效应减少局部误差,从而提高测量精度。
应用领域
如需更专业的晶体学分析细节,可参考的X射线干涉仪原理;工业应用部分可查看的光栅传感器工作原理。
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