疊栅條紋英文解釋翻譯、疊栅條紋的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 moire fringe

分詞翻譯：

疊的英語翻譯：

fold; furl; pile up; repeat
【電】 overlay

栅的英語翻譯：

bar

條紋的英語翻譯：

list; streak; stria; stripe
【醫】 fringe; stripe

專業解析

疊栅條紋（Moiré fringes）是一種由兩個周期性結構疊加時産生的幹涉現象，常見于光學、材料科學和電子顯微技術領域。該術語在漢英詞典中對應"Moiré pattern"或"Moire fringes"，源自法語詞彙"moiré"，意為具有波紋光澤的織物紋理。

其物理本質可表述為：當兩組栅線（如光栅、晶格或規則排列的像素）以微小角度重疊時，空間頻率差異導緻低頻波紋狀條紋生成。數學上可通過傅裡葉變換描述，公式為： $$ I(x,y) = I_1(x,y) cdot I_2(x,y) $$ 其中$I_1$和$I_2$代表兩栅格結構的強度分布。

在工程應用中，這種現象具有雙重性特征：既可能幹擾圖像質量（如手機拍攝屏幕時産生的波紋），也被用作精密測量手段。美國國家标準與技術研究院（NIST）的研究表明，通過分析疊栅條紋的間距變化，可檢測納米級材料應變，精度達到0.1微應變（來源：NIST材料測量實驗室報告）。

該現象的最新應用見于清華大學精密儀器系2023年發表的《基于深度學習的疊栅條紋分析系統》，其開發的算法将傳統光學測量效率提升40%（來源：Optics Express期刊第31卷）。英國物理學會出版社（IOP Publishing）的《測量科學與技術》期刊亦有多篇論文探讨其在非破壞性檢測中的創新應用。

網絡擴展解釋

疊栅條紋是一種由光栅幹涉效應産生的特殊條紋現象，常見于光學測量和晶體分析領域。以下是詳細解釋：

定義與原理

基本概念
疊栅條紋是由兩塊或多塊光栅（如标尺光栅和指示光栅）相對運動時，通過光的幹涉或衍射形成的明暗交替的條紋。其形态呈正弦規律分布。
形成機制
- 當光栅移動時，光的相位差導緻幹涉，産生周期性變化的亮帶和暗帶。
- 在晶體學中，X射線通過布喇格衍射晶體後，多塊晶體的幹涉會形成疊栅條紋，用于分析晶體缺陷和參數。

特點與應用

放大效應與誤差補償
疊栅條紋具有光學放大作用，且通過平均效應減少局部誤差，從而提高測量精度。
應用領域
- 工業測量：如安全光栅傳感器通過檢測條紋移動量，輸出電脈沖信號，轉換為位移數據。
- 材料科學：利用X射線幹涉儀（如三晶幹涉儀）研究晶體内部結構，測定晶格常數等參數。