容易产生测试的电路英文解释翻译、容易产生测试的电路的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【计】 easy test generation circuit

分词翻译：

容的英语翻译：

allow; appearance; contain; hold; looks; tolerate

易的英语翻译：

amiable; change; easy; exchange

产生的英语翻译：

bring; come into being; engender; produce; result; give birth to
【化】 creation; yield
【医】 production
【经】 accrue

测试的英语翻译：

test; testing
【计】 T
【化】 measurement and test
【经】 test

电路的英语翻译：

circuit; circuitry
【计】 electrocircuit
【化】 circuit; electric circuit
【医】 circuit

专业解析

在电子工程领域，"容易产生测试的电路"对应的核心概念是可测试性设计（Design for Testability, DFT）。其含义和英文表述如下：

一、中文术语解析

"容易产生测试的电路"指通过特定设计方法，使电路具备以下特性：

可控制性（Controllability）：
能通过外部输入（如测试引脚）便捷地设置电路内部节点的逻辑状态。

可观测性（Observability）：
能通过输出端口直接观测内部节点的响应，快速定位故障。

低测试复杂度：
减少测试向量生成难度，降低测试时间与成本。

二、英文对应术语与定义

英文标准表述为"Easily Testable Circuit" 或"DFT-Friendly Circuit"，其核心是通过结构化设计提升测试效率：

扫描设计（Scan Design）：
将时序电路中的触发器替换为可串联的扫描寄存器，形成测试路径（如IEEE 1149.1 JTAG标准）。

内建自测试（BIST）：
在电路中集成测试生成和响应分析模块，实现自主测试（参考IEEE Std 1500）。

测试点插入（Test Point Insertion）：
增加控制/观测节点以提升故障覆盖率。

三、技术实现与行业应用

工业标准：
- JTAG（IEEE 1149.1）：用于板级和芯片级测试的通用接口。
- ATPG（自动测试向量生成）：依赖可测试性设计生成高效测试向量。
典型场景：
- 集成电路生产中通过扫描链检测制造缺陷。
- 航天电子系统采用BIST实现高可靠性自检。

四、权威定义参考

IEEE 1149.1标准：
定义边界扫描架构，提升数字电路可控性与可观测性（来源：IEEE Xplore）。

可测试性设计原则（DFT）：
通过结构化方法降低测试成本，详见《VLSI Test Principles and Architectures》。

中英文术语对照表

中文概念	英文术语	技术目标
可控制性	Controllability	设置内部节点状态
可观测性	Observability	捕获内部节点响应
扫描链	Scan Chain	串行化测试数据移入/移出
内建自测试	Built-In Self-Test (BIST)	自主完成测试生成与分析

注：术语定义综合参考IEEE标准及权威教材，技术细节可进一步查阅：

IEEE 1149.1-2013 Standard

IEEE Std 1500-2005 (BIST架构)

《超大规模集成电路测试导论》（清华大学出版社）

网络扩展解释

“容易产生测试的电路”（Easy Test Generation Circuit，简称ETG电路）是一种特殊设计的电路，其核心目标是简化测试集的生成过程，降低计算复杂度。以下是详细解释：

1.定义与特点

ETG电路通过特定设计，使得生成其完整测试集的计算复杂度与电路规模呈线性关系。这意味着，即使电路规模增大，测试生成所需的时间和资源也不会呈指数级增长，显著提升了测试效率。

2.设计原理

结构化设计：电路通常采用模块化或规律性结构，例如重复单元或对称布局，便于通过算法快速推导测试模式。
可控性与可观测性：通过增加控制点（如扫描链）和观测点，减少测试时需要遍历的路径，降低测试生成的复杂性。

3.应用场景

ETG电路常用于可测试性设计（DFT）领域，尤其在大规模集成电路（VLSI）中。例如：

芯片制造前的逻辑验证；
生产过程中故障检测；
硬件安全性的自动化测试。

4.与其他DFT技术的区别

ETG电路更强调测试生成的效率，而传统DFT技术（如边界扫描）侧重于测试实施的便利性。ETG通过算法优化和结构设计直接降低测试生成的复杂度。

5.补充说明

术语翻译：英文对应为“easy test generation circuit”。
测试电路的一般概念：指为检测电路参数（如电流、电压、故障点）而设计的辅助电路，需结合具体场景定制。

ETG电路通过优化设计，在保证功能的前提下，显著提升了测试效率，是集成电路测试领域的重要研究方向。