容易産生測試的電路英文解釋翻譯、容易産生測試的電路的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【計】 easy test generation circuit

分詞翻譯：

容的英語翻譯：

allow; appearance; contain; hold; looks; tolerate

易的英語翻譯：

amiable; change; easy; exchange

産生的英語翻譯：

bring; come into being; engender; produce; result; give birth to
【化】 creation; yield
【醫】 production
【經】 accrue

測試的英語翻譯：

test; testing
【計】 T
【化】 measurement and test
【經】 test

電路的英語翻譯：

circuit; circuitry
【計】 electrocircuit
【化】 circuit; electric circuit
【醫】 circuit

專業解析

在電子工程領域，"容易産生測試的電路"對應的核心概念是可測試性設計（Design for Testability, DFT）。其含義和英文表述如下：

一、中文術語解析

"容易産生測試的電路"指通過特定設計方法，使電路具備以下特性：

可控制性（Controllability）：
能通過外部輸入（如測試引腳）便捷地設置電路内部節點的邏輯狀态。

可觀測性（Observability）：
能通過輸出端口直接觀測内部節點的響應，快速定位故障。

低測試複雜度：
減少測試向量生成難度，降低測試時間與成本。

二、英文對應術語與定義

英文标準表述為"Easily Testable Circuit" 或"DFT-Friendly Circuit"，其核心是通過結構化設計提升測試效率：

掃描設計（Scan Design）：
将時序電路中的觸發器替換為可串聯的掃描寄存器，形成測試路徑（如IEEE 1149.1 JTAG标準）。

内建自測試（BIST）：
在電路中集成測試生成和響應分析模塊，實現自主測試（參考IEEE Std 1500）。

測試點插入（Test Point Insertion）：
增加控制/觀測節點以提升故障覆蓋率。

三、技術實現與行業應用

工業标準：
- JTAG（IEEE 1149.1）：用于闆級和芯片級測試的通用接口。
- ATPG（自動測試向量生成）：依賴可測試性設計生成高效測試向量。
典型場景：
- 集成電路生産中通過掃描鍊檢測制造缺陷。
- 航天電子系統采用BIST實現高可靠性自檢。

四、權威定義參考

IEEE 1149.1标準：
定義邊界掃描架構，提升數字電路可控性與可觀測性（來源：IEEE Xplore）。

可測試性設計原則（DFT）：
通過結構化方法降低測試成本，詳見《VLSI Test Principles and Architectures》。

中英文術語對照表

中文概念	英文術語	技術目标
可控制性	Controllability	設置内部節點狀态
可觀測性	Observability	捕獲内部節點響應
掃描鍊	Scan Chain	串行化測試數據移入/移出
内建自測試	Built-In Self-Test (BIST)	自主完成測試生成與分析

注：術語定義綜合參考IEEE标準及權威教材，技術細節可進一步查閱：

IEEE 1149.1-2013 Standard

IEEE Std 1500-2005 (BIST架構)

《超大規模集成電路測試導論》（清華大學出版社）

網絡擴展解釋

“容易産生測試的電路”（Easy Test Generation Circuit，簡稱ETG電路）是一種特殊設計的電路，其核心目标是簡化測試集的生成過程，降低計算複雜度。以下是詳細解釋：

1.定義與特點

ETG電路通過特定設計，使得生成其完整測試集的計算複雜度與電路規模呈線性關系。這意味着，即使電路規模增大，測試生成所需的時間和資源也不會呈指數級增長，顯著提升了測試效率。

2.設計原理

結構化設計：電路通常采用模塊化或規律性結構，例如重複單元或對稱布局，便于通過算法快速推導測試模式。
可控性與可觀測性：通過增加控制點（如掃描鍊）和觀測點，減少測試時需要遍曆的路徑，降低測試生成的複雜性。

3.應用場景

ETG電路常用于可測試性設計（DFT）領域，尤其在大規模集成電路（VLSI）中。例如：

芯片制造前的邏輯驗證；
生産過程中故障檢測；
硬件安全性的自動化測試。

4.與其他DFT技術的區别

ETG電路更強調測試生成的效率，而傳統DFT技術（如邊界掃描）側重于測試實施的便利性。ETG通過算法優化和結構設計直接降低測試生成的複雜度。

5.補充說明

術語翻譯：英文對應為“easy test generation circuit”。
測試電路的一般概念：指為檢測電路參數（如電流、電壓、故障點）而設計的輔助電路，需結合具體場景定制。

ETG電路通過優化設計，在保證功能的前提下，顯著提升了測試效率，是集成電路測試領域的重要研究方向。