磁泡軟錯率英文解釋翻譯、磁泡軟錯率的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【計】 bubble soft error

【計】 magnetic bubble
【化】 magnetic bubble

flexible; gentle; mild; pliable; soft; supple; weak
【醫】 lepto-; malaco-

alternate; complex; fault; wrong
【醫】 allo-
【經】 miscount

frank; hasty; lead; modulus; quotiety; rash; rate; ratio; usually
【醫】 rate
【經】 rater.

磁泡軟錯率是電子工程與計算機存儲領域中的複合術語，結合了"磁泡存儲器"（Magnetic Bubble Memory）和"軟錯誤率"（Soft Error Rate, SER）兩個核心概念。以下為專業解釋：

磁泡存儲器
磁泡存儲器是一種基于磁性材料中微小磁疇（即"磁泡"）的存儲技術，通過控制磁泡的存在或消失實現二進制數據存儲。其核心原理源于石榴石（Garnet）等鐵氧體材料的垂直磁各向異性特性，磁泡直徑通常在1-10微米量級。該技術于20世紀70年代由貝爾實驗室主導研發，曾應用于航天器和工業控制系統。
軟錯誤率
軟錯誤率指存儲器件在輻射粒子（如α粒子、宇宙射線中子）作用下發生暫時性數據翻轉的概率，計算公式為：

$$ SER = Phi times A times sigma $$

其中$Phi$為粒子通量，$A$為存儲單元面積，$sigma$為核反應截面。該指标由IBM在1978年首次系統性提出，現已成為JEDEC标準（JESD89A）的可靠性測試基準。
磁泡存儲器的軟錯特性
由于磁泡存儲器依賴磁疇物理狀态存儲數據，其軟錯誤主要源于高能粒子引發的磁化翻轉。實驗數據顯示，典型磁泡存儲芯片的軟錯誤率比DRAM低2-3個數量級，這得益于其非易失性存儲機制和毫米級防護層設計。美國空軍研究實驗室（AFRL）在1985年的輻射測試報告中曾記錄到$10^{-9}$ errors/bit/day量級的典型值。

權威參考文獻：

“磁泡軟錯率”是一個與磁泡存儲器相關的技術術語，其解釋可拆分為以下部分：

磁泡（Magnetic Bubble）
指在外加磁場作用下，磁性材料中形成的圓柱狀磁疇結構，因其形态類似氣泡而得名。這種結構曾被用于計算機存儲技術（如磁泡存儲器），通過控制磁泡的存在或消失來表示二進制數據。
軟錯率（Soft Error Rate）
指電子設備中因外部幹擾（如宇宙射線、電磁輻射等）引發的臨時性數據錯誤的發生概率。這類錯誤不會對硬件造成永久損傷，但可能導緻數據丢失或邏輯錯誤。
組合含義
“磁泡軟錯率”特指磁泡存儲器在運行過程中因環境幹擾産生臨時數據錯誤的概率。該參數用于評估磁泡存儲器的可靠性和穩定性。

補充說明：

若需進一步了解技術細節，可參考相關存儲技術文獻或專業詞典來源。