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穿通效應英文解釋翻譯、穿通效應的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯:

【計】 punch through effect

分詞翻譯:

穿通的英語翻譯:

【計】 punch through
【醫】 canalization; fenestration

效應的英語翻譯:

effect
【醫】 effect

專業解析

穿通效應 (Punch-Through Effect) 是半導體器件物理中的一個重要概念,指在特定工作條件下,器件内部耗盡區的擴展行為及其導緻的電學特性變化。

  1. 術語定義與漢英對照:

    • 中文:穿通效應
    • 英文:Punch-Through Effect
    • 該術語描述了當施加在半導體器件(如PN結二極管、雙極晶體管或場效應晶體管)上的反向偏壓足夠高時,其耗盡區(Depletion Region)會從一側的摻雜區域(如發射極或源極)擴展到另一側的摻雜區域(如集電極或漏極),形成一條低阻通道的現象。
  2. 物理機制:

    • 在正常工作狀态下,PN結或晶體管的基區(Base)存在一個未耗盡的、具有一定電阻的中性區域,起到隔離和調控電流的作用。
    • 當反向偏壓(如集電極-基極電壓 V_CB 或漏極-源極電壓 V_DS)持續增大時,耗盡區寬度隨之增加。根據耗盡區寬度公式: $$ W = sqrt{frac{2epsilon_s}{q} left( frac{1}{N_A} + frac{1}{ND} right) (V{bi} + V_R)} $$ 其中,epsilon_s 是半導體介電常數,q 是電子電荷,N_A 和 ND 是受主和施主濃度,V{bi} 是内建電勢,V_R 是反向偏壓。
    • 當 V_R 增大到某一臨界值(穿通電壓,Punch-Through Voltage)時,耗盡區将完全貫穿原本的中性基區或溝道區域,使兩個高摻雜區(如發射極與集電極)在物理上通過耗盡區“連通”。
  3. 電學表現與影響:

    • 一旦發生穿通,原本被中性區隔離的兩個區域之間失去了高阻屏障,導緻電流急劇增大。在雙極晶體管中,表現為集電極電流 I_C 在 V_CB 超過穿通電壓後陡峭上升,失去正常的電流飽和特性;在場效應晶體管中,可能導緻源漏間電流失控性增加。
    • 穿通效應是器件擊穿的一種機制(區别于雪崩擊穿)。它限制了器件能夠承受的最大工作電壓,是器件設計和可靠性分析中必須考慮的關鍵因素。
  4. 與雪崩擊穿的區别:

    • 穿通效應:主要由耗盡區物理擴展連通兩端引起,與器件的幾何尺寸(如基區寬度)和摻雜濃度密切相關。電流增大是由于勢壘降低或消失。
    • 雪崩擊穿:由強電場下載流子碰撞電離産生大量電子-空穴對引起,電流增大是由于倍增效應。其擊穿電壓主要取決于材料的臨界電場強度。

參考資料來源:

網絡擴展解釋

“穿通效應”(Punch-through effect)是半導體器件物理中的一個術語,主要指在特定條件下,器件内部耗盡區擴展至整個基區或溝道區域,導緻電流失控的現象。以下是詳細解釋:

1.定義與背景

穿通效應常見于雙極型晶體管(BJT)或場效應晶體管(FET)中。當施加的電壓過高時,集電極-基極或漏極-源極間的耗盡區會過度擴展,最終穿透基區或溝道,使發射極與集電極(或源極與漏極)直接導通,失去器件原有的電流控制能力。

2.發生條件

3.物理機制

以雙極型晶體管為例:

4.後果與影響

5.應用中的應對措施

若需進一步了解具體器件(如功率晶體管、二極管)中的穿通效應案例,建議提供更多上下文或參考半導體物理教材(如《半導體器件基礎》)。

分類

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