穿通效應英文解釋翻譯、穿通效應的近義詞、反義詞、例句
英語翻譯:
【計】 punch through effect
分詞翻譯:
穿通的英語翻譯:
【計】 punch through
【醫】 canalization; fenestration
效應的英語翻譯:
effect
【醫】 effect
專業解析
穿通效應 (Punch-Through Effect) 是半導體器件物理中的一個重要概念,指在特定工作條件下,器件内部耗盡區的擴展行為及其導緻的電學特性變化。
-
術語定義與漢英對照:
- 中文:穿通效應
- 英文:Punch-Through Effect
- 該術語描述了當施加在半導體器件(如PN結二極管、雙極晶體管或場效應晶體管)上的反向偏壓足夠高時,其耗盡區(Depletion Region)會從一側的摻雜區域(如發射極或源極)擴展到另一側的摻雜區域(如集電極或漏極),形成一條低阻通道的現象。
-
物理機制:
- 在正常工作狀态下,PN結或晶體管的基區(Base)存在一個未耗盡的、具有一定電阻的中性區域,起到隔離和調控電流的作用。
- 當反向偏壓(如集電極-基極電壓 V_CB 或漏極-源極電壓 V_DS)持續增大時,耗盡區寬度隨之增加。根據耗盡區寬度公式:
$$
W = sqrt{frac{2epsilon_s}{q} left( frac{1}{N_A} + frac{1}{ND} right) (V{bi} + V_R)}
$$
其中,epsilon_s 是半導體介電常數,q 是電子電荷,N_A 和 ND 是受主和施主濃度,V{bi} 是内建電勢,V_R 是反向偏壓。
- 當 V_R 增大到某一臨界值(穿通電壓,Punch-Through Voltage)時,耗盡區将完全貫穿原本的中性基區或溝道區域,使兩個高摻雜區(如發射極與集電極)在物理上通過耗盡區“連通”。
-
電學表現與影響:
- 一旦發生穿通,原本被中性區隔離的兩個區域之間失去了高阻屏障,導緻電流急劇增大。在雙極晶體管中,表現為集電極電流 I_C 在 V_CB 超過穿通電壓後陡峭上升,失去正常的電流飽和特性;在場效應晶體管中,可能導緻源漏間電流失控性增加。
- 穿通效應是器件擊穿的一種機制(區别于雪崩擊穿)。它限制了器件能夠承受的最大工作電壓,是器件設計和可靠性分析中必須考慮的關鍵因素。
-
與雪崩擊穿的區别:
- 穿通效應:主要由耗盡區物理擴展連通兩端引起,與器件的幾何尺寸(如基區寬度)和摻雜濃度密切相關。電流增大是由于勢壘降低或消失。
- 雪崩擊穿:由強電場下載流子碰撞電離産生大量電子-空穴對引起,電流增大是由于倍增效應。其擊穿電壓主要取決于材料的臨界電場強度。
參考資料來源:
- S. M. Sze, 《半導體器件物理》(Physics of Semiconductor Devices), John Wiley & Sons. (經典教材,涵蓋基礎理論)
- B. G. Streetman, S. Banerjee, 《固态電子器件》(Solid State Electronic Devices), Pearson Education. (廣泛使用的教材,詳細解釋器件物理)
- Y. Tsividis, 《MOSFET 建模與電路設計》(Operation and Modeling of the MOS Transistor), Oxford University Press. (深入讨論 MOSFET 特性,包括穿通)
網絡擴展解釋
“穿通效應”(Punch-through effect)是半導體器件物理中的一個術語,主要指在特定條件下,器件内部耗盡區擴展至整個基區或溝道區域,導緻電流失控的現象。以下是詳細解釋:
1.定義與背景
穿通效應常見于雙極型晶體管(BJT)或場效應晶體管(FET)中。當施加的電壓過高時,集電極-基極或漏極-源極間的耗盡區會過度擴展,最終穿透基區或溝道,使發射極與集電極(或源極與漏極)直接導通,失去器件原有的電流控制能力。
2.發生條件
- 高反向偏壓:集電極-基極或漏極-基極電壓超過臨界值。
- 基區/溝道過薄:器件設計時基區或溝道厚度不足,易被耗盡區覆蓋。
- 摻雜濃度低:低摻雜的基區或溝道會加速耗盡區擴展。
3.物理機制
以雙極型晶體管為例:
- 正常工作時,基極-集電極間的反向偏壓形成耗盡區,但未完全覆蓋基區。
- 當電壓過高時,耗盡區橫向擴展至整個基區,導緻發射極與集電極直接連通,電流急劇增大,失去放大作用。
4.後果與影響
- 電流失控:器件無法通過基極電流控制集電極電流。
- 熱失效:大電流可能導緻局部過熱,損壞器件。
- 與雪崩擊穿的區别:穿通效應是結構耗盡導緻的導通,而雪崩擊穿是因碰撞電離引發的載流子倍增。
5.應用中的應對措施
- 優化摻雜分布:通過梯度摻雜抑制耗盡區過度擴展。
- 增加基區/溝道厚度:确保耗盡區無法完全穿透。
- 限制工作電壓:器件設計時需設定安全電壓範圍。
若需進一步了解具體器件(如功率晶體管、二極管)中的穿通效應案例,建議提供更多上下文或參考半導體物理教材(如《半導體器件基礎》)。
分類
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