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穿通效应英文解释翻译、穿通效应的近义词、反义词、例句

英语翻译:

【计】 punch through effect

分词翻译:

穿通的英语翻译:

【计】 punch through
【医】 canalization; fenestration

效应的英语翻译:

effect
【医】 effect

专业解析

穿通效应 (Punch-Through Effect) 是半导体器件物理中的一个重要概念,指在特定工作条件下,器件内部耗尽区的扩展行为及其导致的电学特性变化。

  1. 术语定义与汉英对照:

    • 中文:穿通效应
    • 英文:Punch-Through Effect
    • 该术语描述了当施加在半导体器件(如PN结二极管、双极晶体管或场效应晶体管)上的反向偏压足够高时,其耗尽区(Depletion Region)会从一侧的掺杂区域(如发射极或源极)扩展到另一侧的掺杂区域(如集电极或漏极),形成一条低阻通道的现象。
  2. 物理机制:

    • 在正常工作状态下,PN结或晶体管的基区(Base)存在一个未耗尽的、具有一定电阻的中性区域,起到隔离和调控电流的作用。
    • 当反向偏压(如集电极-基极电压 V_CB 或漏极-源极电压 V_DS)持续增大时,耗尽区宽度随之增加。根据耗尽区宽度公式: $$ W = sqrt{frac{2epsilon_s}{q} left( frac{1}{N_A} + frac{1}{ND} right) (V{bi} + V_R)} $$ 其中,epsilon_s 是半导体介电常数,q 是电子电荷,N_A 和 ND 是受主和施主浓度,V{bi} 是内建电势,V_R 是反向偏压。
    • 当 V_R 增大到某一临界值(穿通电压,Punch-Through Voltage)时,耗尽区将完全贯穿原本的中性基区或沟道区域,使两个高掺杂区(如发射极与集电极)在物理上通过耗尽区“连通”。
  3. 电学表现与影响:

    • 一旦发生穿通,原本被中性区隔离的两个区域之间失去了高阻屏障,导致电流急剧增大。在双极晶体管中,表现为集电极电流 I_C 在 V_CB 超过穿通电压后陡峭上升,失去正常的电流饱和特性;在场效应晶体管中,可能导致源漏间电流失控性增加。
    • 穿通效应是器件击穿的一种机制(区别于雪崩击穿)。它限制了器件能够承受的最大工作电压,是器件设计和可靠性分析中必须考虑的关键因素。
  4. 与雪崩击穿的区别:

    • 穿通效应:主要由耗尽区物理扩展连通两端引起,与器件的几何尺寸(如基区宽度)和掺杂浓度密切相关。电流增大是由于势垒降低或消失。
    • 雪崩击穿:由强电场下载流子碰撞电离产生大量电子-空穴对引起,电流增大是由于倍增效应。其击穿电压主要取决于材料的临界电场强度。

参考资料来源:

网络扩展解释

“穿通效应”(Punch-through effect)是半导体器件物理中的一个术语,主要指在特定条件下,器件内部耗尽区扩展至整个基区或沟道区域,导致电流失控的现象。以下是详细解释:

1.定义与背景

穿通效应常见于双极型晶体管(BJT)或场效应晶体管(FET)中。当施加的电压过高时,集电极-基极或漏极-源极间的耗尽区会过度扩展,最终穿透基区或沟道,使发射极与集电极(或源极与漏极)直接导通,失去器件原有的电流控制能力。

2.发生条件

3.物理机制

以双极型晶体管为例:

4.后果与影响

5.应用中的应对措施

若需进一步了解具体器件(如功率晶体管、二极管)中的穿通效应案例,建议提供更多上下文或参考半导体物理教材(如《半导体器件基础》)。

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