離子探針微區分析器英文解釋翻譯、離子探針微區分析器的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 ionprobe microanalyzer

分詞翻譯：

離子的英語翻譯：

ion
【化】 ion
【醫】 ion

探針的英語翻譯：

bougie; probe; stylet
【計】 needle
【化】 probe
【醫】 probe

微的英語翻譯：

decline; profound; tiny
【計】 mic-; micro-
【醫】 micr-; micro-; mikro-; mu

區的英語翻譯：

area; borough; classify; distinguish; district; region; section
【計】 region
【醫】 area; belt; field; quarter; regio; region; zona; zone

分析器的英語翻譯：

【計】 analyzer
【化】 analyzer
【醫】 analysor; analyzer

專業解析

離子探針微區分析器（Ion Probe Microanalyzer），在漢英詞典視角下，通常指基于二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）原理，對固體樣品表面微米尺度區域進行元素和同位素成分分析的精密儀器。其核心是通過聚焦的一次離子束轟擊樣品表面，濺射出二次離子，再經質譜分析确定成分。

以下是詳細解釋：

術語分解與漢英對應
- 離子探針 (Ion Probe)：指儀器使用聚焦的一次離子束 (Primary Ion Beam) 作為“探針”轟擊樣品表面。常用離子源包括 O₂⁺（氧）、O⁻（氧負離子）、Cs⁺（铯）、Ga⁺（镓）等。英文對應 "Ion Probe"。
- 微區 (Micro-area)：強調該技術具有極高的空間分辨率 (Spatial Resolution)，可對樣品表面微米 (μm) 甚至亞微米 (sub-μm) 尺度的微小區域進行定點分析，實現成分的微區分布成像。英文對應 "Micro-area" 或 "Micro-region"。
- 分析器 (Analyzer)：指儀器核心部件質譜儀 (Mass Spectrometer)，用于分離和檢測由樣品表面濺射出的二次離子 (Secondary Ions)，根據其質荷比 (m/z) 進行定性和定量分析。英文對應 "Analyzer"。
工作原理簡述高能聚焦的一次離子束轟擊樣品表面特定微區，引起表層原子/分子發生濺射，産生帶正電荷或負電荷的二次離子。這些二次離子被提取進入質譜儀（通常為磁扇型或飛行時間型），按質荷比分離後被檢測器接收。通過分析二次離子的種類和強度，即可獲得該微區内元素的種類、含量及其同位素比值信息。
核心功能與技術特點
- 高空間分辨率：可實現微米至亞微米尺度的成分分析，是研究材料微觀結構、界面、缺陷、夾雜物等的有力工具。
- 高靈敏度：可檢測極低濃度（ppm 甚至 ppb 級别）的元素和同位素，尤其擅長輕元素（如 H, Li, B, C, N, O）分析。
- 元素及同位素分析：不僅能分析元素組成，還能精确測定同位素比值（如地質學中的 Si, O, S 同位素）。
- 深度剖析：通過連續濺射，可獲取元素濃度隨深度的變化信息，用于薄膜、塗層、擴散層等研究。
- 成像能力：通過掃描離子束或移動樣品台，可獲取特定元素在樣品表面二維分布的成分像。
主要應用領域
- 材料科學：半導體材料雜質分布、金屬合金偏析、陶瓷/玻璃界面反應、塗層/薄膜成分與結構分析。
- 地球與行星科學：礦物微區成分、同位素定年（如锆石 U-Pb）、隕石/月岩成分分析、古氣候研究（如貝殼同位素）。
- 生命科學：生物組織、細胞中微量元素（如 Ca, Fe, Zn）的分布成像（需特殊制樣）。
- 核工業：核燃料及包殼材料成分分析、輻照損傷研究。

引用來源：

中國科學院物理研究所 - 二次離子質譜 (SIMS) 技術原理簡介 (https://www.iop.cas.cn/kxcb/kjqy/201507/t20150708_4393030.html)
University of Cambridge, Department of Materials Science & Metallurgy - Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) (https://www.msm.cam.ac.uk/characterization/sims)
《分析化學》期刊 - 離子探針微區分析技術在地質樣品研究中的應用進展 (https://www.analchem.cn/article/doi/10.3724/SP.J.1096.2020.20001)

網絡擴展解釋

離子探針微區分析器（Ion Microprobe Analyzer，簡稱IMA），又稱二次離子質譜（SIMS），是一種用于材料表面微區成分分析的高精度儀器。其核心原理和特點如下：

1.基本原理

通過高能離子束（通常為惰性氣體離子，如Ar⁺或O⁻，能量範圍1-20 keV）轟擊樣品表面，激發出二次離子。這些二次離子經質譜儀分析，通過質荷比和強度确定元素種類及含量。分析區域可小至1-2 μm直徑和5 nm深度，適合表面及微區成分檢測。

2.濺射過程

一次離子散射：部分入射離子與表面碰撞後反射回真空（如彈性碰撞）。
反彈濺射：單次碰撞将能量傳遞給表面原子，使其高能發射。
級聯碰撞：離子注入固體内部，引發晶格原子級聯碰撞，最終部分原子逃逸表面形成二次離子。
二次離子主要來自表層1-3個原子層（約1 nm深度），因此具有極高的表面靈敏度。

3.儀器組成與特點

核心組件：包括離子源（産生一次離子束）、聚焦系統、質譜儀（分析二次離子）。
優勢：高空間分辨率（微米級）、檢測限低（ppm至ppb級）、可分析同位素及痕量元素。

4.應用領域

主要用于材料科學、地質學、半導體等領域，例如測定玻璃表面離子擴散濃度，或分析礦物微區成分分布。

如需更完整信息，可參考相關文獻或儀器手冊。